La difusión de rayos X (XRD) es una técnica utilizada para analizar la estructura de cristal de materiales. Proporciona datos que pueden utilizarse para calcular los espaciamientos interplanares, que son distancias entre planos atómicos en un cristal. Entender cómo interpretar los datos de XRD es esencial para la caracterización y análisis de materiales.

Comprender los datos de la difacciones de rayos X

Los datos de XRD se presentan normalmente como un patrón de difracción, mostrando picos en ángulos específicos. Estos picos corresponden a la difusión de rayos X por los planos de cristal. La posición de cada pico está relacionada con el espaciado interplanar a través de la Ley de Bragg.

Calculando los espacios interplanares

La Ley de Bragg es la ecuación fundamental utilizada para calcular los espaciados interplanarios. Se expresa como:

nλ = 2d sin θ

Donde:

  • n] es el orden de la difracción (normalmente 1)
  • λ es la longitud de onda de la radiografía
  • d es el espaciado interplanar
  • θ es el ángulo de Bragg (la mitad del ángulo de la difracción)

Reorganizar la ecuación para resolver para d da:

d = λ / (2 sin θ)

Aplicar la Cálculo

Para determinar el espaciamiento interplanar, mide el ángulo de difracción (2 θ) del patrón. Divide este ángulo por 2 para encontrar θ. Use la longitud de onda conocida de la fuente de rayos X, típicamente 1.54 Å para la radiación Cu Kα. Enchufe estos valores en la fórmula para calcular d.

Por ejemplo, si un pico aparece en 2 θ = 30°, entonces θ = 15°. Usando λ = 1,54 Å:

d = 1.54 Å / (2 sin 15°) ♥ 1.54 Å / (2 × 0.2588) ♥ 1.54 Å / 0.5176 ♥ 2.97 Å