La prueba consiste en crear circuitos que se puedan probar fácilmente para fallas y errores, reducir el tiempo de depuración y mejorar la calidad general. Este artículo explora las normas y técnicas utilizadas en el diseño de circuitos digitales probables.

Normas en el diseño de la prueba

Las normas proporcionan directrices para el desarrollo de circuitos digitales probables. Garantizan la consistencia y compatibilidad en diferentes sistemas y métodos de prueba. Los estándares comunes incluyen el IEEE 1149.1, también conocido como JTAG, que define una interfaz estándar para la prueba y depuración de circuitos integrados.

Adherirse a estos estándares ayuda a los diseñadores a incorporar las características de prueba durante la fase de diseño inicial, facilitando la detección y el diagnóstico de falla más adelante.

Técnicas para mejorar la testabilidad

Se utilizan varias técnicas para mejorar la testabilidad de los circuitos digitales, entre ellas:

  • Design for Testability (DfT): Incorporating test points and scan chains to facilitate testing.
  • Built-In Self-Test (BIST):] Incrustar las capacidades de prueba dentro del circuito para realizar autodiagnóstico.
  • Modelos predeterminados: Usar modelos como fallas pegadas para simular y detectar posibles errores.
  • Escaneo de resultados: Usando células de escaneo de límites para probar las interconexiones entre chips.

Beneficios de la testabilidad

La implementación de funciones de testabilidad en circuitos digitales ofrece varias ventajas. Reduce el tiempo de prueba, mejora la cobertura de fallas y simplifica los procesos de depuración. Además, aumenta la fiabilidad del producto final y reduce los costos de mantenimiento en su vida útil.