La diffraction des rayons X (XRD) est une technique utilisée pour analyser la structure cristalline des matériaux. Elle fournit des données qui peuvent être utilisées pour calculer les espacements interplanaires, qui sont des distances entre les plans atomiques dans un cristal.

Comprendre les données de diffraction des rayons X

Les données de la radiographie sont généralement présentées sous forme de diagramme de diffraction, montrant des pics à des angles spécifiques. Ces pics correspondent à la diffraction des rayons X par les plans cristallins. La position de chaque pic est liée à l'espacement interplanaire par la loi de Bragg.

Calcul des espaces interplanaires

La loi de Bragg est l'équation fondamentale utilisée pour calculer les espacements interplanaires. Elle est exprimée comme suit:

nλ = 2d sin φ

où:

  • n est l'ordre de diffraction (généralement 1)
  • λ est la longueur d'onde de la radiographie.
  • d est l'espacement interplanaires
  • φ est l'angle de Bragg (la moitié de l'angle de diffraction)

La réarrangement de l'équation à résoudre pour d donne:

d = λ / (2 sin φ)

Application du calcul

Pour déterminer l'espacement interplanaire, mesurer l'angle de diffraction (2.) du motif. Diviser cet angle par 2 pour trouver . Utilisez la longueur d'onde connue de la source de rayons X, généralement 1,54 Å pour le rayonnement Cu Kα. Branchez ces valeurs dans la formule pour calculer d.

Par exemple, si un pic apparaît à 2 α = 30°, alors α = 15°.

d = 1,54 Å / (2 sin 15°) - 1,54 Å / (2 × 0,2588) - 1,54 Å / 0,5176 - 2,97 Å