השפעת הטמפרטורות על ביצועי ה-Data Acquisition Hardware

רכישת נתונים (DAQ) מהווה את עמוד השדרה של מערכות מדידה ובקרה מודרניות, תרגום תופעות פיזיות לנתונים דיגיטליים שניתן לנתח ולפעול על ידי כך, הדיוק והארוכותיות של מערכות אלה רגישים מאוד לתנאי סביבה, במיוחד טמפרטורה.אם הם פרוסים במעבדה, צמח תעשייתי, או תחנת ניטור חיצונית, DAQ חייב להתמודד עם תנודות טמפרטורה שונות שיכולה לגרוע ביצועים, להציג שגיאות, לקצר את החיים התפעוליים והההה של מהנדסים החיוניים, אשר הם יישומים חיוניים, ולהוביל לטכנולוגיות יעילות, ולהוביל לטכנולוגיות יעילות, כלומר, ואפקטים של טכנולוגיות חיוניות, ולהוביל לטכנולוגיות יעילות, או טכנאים, כלומר, אשר הן שיטות עיבוד נתונים חיוניות, ולהוביל לטכנולוגיות יעילות, או טכנאים, או טכנאים, או טכנאים, או טכנאים, או טכנאים, או טכנאים, או טכנאים, או טכנאים, או אקטיביות, אשר דורשות, אשר דורשות, או טכנאים, אשר תחת שיטות בקרה חיוניות, או טכנאים, אשר דורשות, או טכנאים, תחת תנאי בקרה, או מנגנונים חיוניים, אשר נמצאים תחת שיטות בקרה, או תחנת ניטור חיצוניות, אשר דורשות, אשר דורשות, או תחנת ניטור חיצוניות, או

וריאציות טמפרטורה משפיעות כמעט כל רכיב במערכת DAQ - מחיישנים ומעגלות התניה אותות לממירים אנלוגיים-לספריים (ADCs) ואלמנטים אחסון נתונים.אפילו שינויים בינוניים של כמה מעלות יכול להוביל לסחף, רעש מוגבר וחוסר יציבות קליר. מאמר זה חוקר את המנגנונים הבסיסיים על ידי אילו השפעות טמפרטורה DAQ, מספק דוגמאות כמותיות, ומתווה מעשי למזער את ההשפעות העיצוביות, כך שיש לך, כדי לספק את ההשפעות השונות, כדי לספק.

מימון של Data Acquisition Hardware

לפני צלילה לאפקטי טמפרטורה, חשוב לבסס הבנה בסיסית של ארכיטקטורת מערכת DAQ טיפוסית.מערכת DAQ דו-תכליתית כוללת:

  • (ב) ⁇ :0) , ⁇ ו- transducersFLT:1 אשר להמיר פרמטרים פיזיים (טמפרטורה, לחץ, לחץ, מאמץ וכו ') לסימנים חשמליים.
  • (ב) ,0) , עיגולי התניה (FLT) 1 (הדגשה), הפילטרים, ומבודדים את האותות הללו כדי להתאים את טווח הקלט של המרת הנתונים.
  • (ב) [15] , ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇
  • (FLT:0) עיבוד ותקשורת (FLT:103) רכיבים (מיקרובקרים, FPGAs, אוטובוסים) אשר מטפלים בהעברת נתונים, כניסה וניתוח.
  • (ב) אספקת חשמל ועיגולי התייחסות (FLT:1 ), אשר מספקים מתחים יציבים וזרמים חיוניים לפעולה מדויקת.

כל אחת מהמערכות הללו מציגה התנהגות תלויה בטמפרטורה.מכשירי DAQ מודרניים כוללים לעתים קרובות פיצוי מובנה או ערבויות ספציפיות על טווחי טמפרטורה מוגדרים, אך פריסות בעולם האמיתי לעתים קרובות לדחוף מעבר לגבולות אלה.

השפעות על שינויי טמפרטורה על ביצועי DAQ

1 הרמיוני Drift in Sensor Outputs

רוב החיישנים, כולל thermocouples, RTDs (גירשת טמפרטורה), מד מתח, ולוחמי לחץ, תצוגת תפוקה עם טמפרטורה מעבר למדידה המיועדת.לדוגמה, התנגדות של מד מתח משתנה לא רק עם זנים מכניים אלא גם עם טמפרטורה מטבולית עקב הצומת התרמית של התנגדות של המתכת.

דוגמה מעשית: סוג-K thermocouple עם רגישות נומינאלית של כ-41 מיקרוV / ° C תהיה טעות של בערך 0.1 מעלות C עבור כל 4 מיקרוV של סחף בצומת ההתייחסות. בסביבה שבה הטמפרטורה הפנימית משתנה על ידי 5 ° C, השגיאה הבלתי מתואם יכולה לעלות על 0.5 מעלות צלזיוס. עבור יישומים בעלי דיוק גבוה (למשל, תהליך מעקב או תהליך מעקב אחר למחצה), הוא סחף לא מקובל יותר.

2. Analog Circuitry Drift ו- Component Tolerance

מגבר תפעולי, מתנגד, קיבולים, ופני מתח מתייחסים לכל התנהגות עם טמפרטורה.האפקט המשמעותי ביותר הוא על מתח הילוך וטיה זרם של דגימת אופנה. a דיוק טיפוסית דגימה עשוי להיות חסכוני טמפרטורה של 1 μV / ° C, כלומר שינוי 20 מעלות C מציג 20 מיקרו-V של סחף מתפורר. עבור מערכת DAQ מדידה בסימנים בטווח זה מייצג שבריר משמעותית של מילימטר הרצויה.

הפניות מתח קריטיות בשימוש ב- ADCs הן רגישות במיוחד. A מתח ההתייחסות עם טמפרטורות יעילות של 10 ppm / ° C יגרום שינוי 200 ppm (0.02%) לשינוי 20 מעלות צלזיוס עם טווח רחב של 10 מעלות / ° C, זה מתורגם לשגיאה פוטנציאלית של כ 3 LS (פחות משמעותי סיביות).

ADC Performance Degradation

מעגלים משולבים ADC מתוכננים עם פיצוי פנימי אבל עדיין להציג כמה פרמטרים תלות טמפרטורה:

  • (FLT:0) מצגת והשגת סחף: FLT:1 התפוקה הדיגיטלית המקבילה אפס קלט וגורם הסקאלה שניהם שינוי עם טמפרטורה. ערכים אופייניים עבור הצלחה-approximation (SAR) ADCs הם ±1 ל ±5 p/ ° C עבור רווח ו- 1 ל ±3 pm/C עבור סחף גבוה, יש צורך בחשבון עבור סגסוגת גבוהה, עבור יישום עבור סגסוגת גבוהה, עבור יישום זה חייב להיות עבור סגסוגת.
  • (FLT:0) אי-לינאריות (INL) וריאציות: 1FLT:1 הסטייה מתפקוד העברה ליניארי אידיאלי עולה בטמפרטורות קיצוניות. חלק מה- ADCs לציין רק על פני טווח הטמפרטורה התעשייתית (- 40 ° C ל +85 ° C) ועשויה לגרוע באופן משמעותי מחוץ לטווח זה.
  • (הרעש העילאי:0) העלאת רעש: 1 (רעש ג'ונסון-ניקוויסט) עולה עם טמפרטורה. רעש גבוה יותר מפחית את יחס האות-ל-לא-רעש (SNR) ורזולוציה יעילה (ENOB) עבור ממוצע 16-bit ADC, 20 מעלות צלזיוס עשוי להגביר את הרעש ב-1DB, תוך צמצום טווח דינמי.

לוגיקה דיגיטלית ותזמון חוסר יכולת

בעוד מעגלים דיגיטליים רגישים פחות לטמפרטורה מאשר מקבילות אנלוגיות, שעונים מהירים, עיכובים פנימיים FPGA וממשקי תקשורת נתונים (SPI, USB, Ethernet) יכולים לסבול משקע תזמון אם שינויי טמפרטורה משנים עיכובים.במקרים קיצוניים, שעון ג'טר עשוי להגדיל, גרימת שחיתות נתונים לסירוגין.עבור מערכות DAQ שמסתמך על סינכרון מדויק (למשל, amps-amps-cotchence) יכול להגדיל את מדידות מרובות של תזמון של שגיאות בטמפרטורות מושרה, מדידות).

5.התרגשות והנזק הקבוע

(הרכיבה תרמית חוזרת גורמת ללחץ מכני על המפרקים שנמכרים, חוטי האג"ח וממשקי החבילה.בזמן, זה יכול להוביל למיקרו-קפיצים, חיבורים לסירוגין, או כישלון מוחלט.בנוסף, מודולים DAQ רבים מסתמכים על קלמנט פנימי שנשמר בזיכרון שאינו רצוני; טמפרטורות קיצוניות עלולות לגרום לתקני הפחתת ה cabration כדי להפוך לאולידי אם הטמפרטורות של NFsee הן חריגות של תקן ה-N) של תקן סקירה סטנדרטי (N) הוא מאיץ (N) של תקן סקירה סטנדרטי (N) וסטנדרטים של תקן ARM (N) של תקן ARM) ו-N) של תקן סקירה סטנדרטי (N) של תקן סקירה סטנדרטי (N) של תקן סטנדרטי (N) של תקן DN) של תקן סקירה סטנדרטי (N) של תקן סקירה סטנדרטיים של תקן DRASTD) של תקן DRM (N) של תקן סקירה סטנדרטיים (N) של תקן סקירה סטנדרטיים (N) ו-N) של תקן סקירה סטנדרטיים של תקן סקירה סטנדרטיים של תקן סקירה סטנדרטיים של תקן סקירה סטנדרטיים (N) של תקן סקירה סטנדרטיים (N) של תקן DN) של תקן DRASTDNS) פשט

השפעות טמפרטורה: הדרה וספקטיבה

יצרנים מספקים מפרט טמפרטורה עבור חומרת DAQ, בדרך כלל כמו:

  • (FLT:0) טמפרטורות טווח הטמפרטורות נעות בין 1 ל-1 (למשל 0 °C ל 50 מעלות צלזיוס עבור מסחרי, -40 מעלות צלזיוס ל +85 ° C עבור תעשייתי, −55 °C ל +125 ° C עבור הצבא).
  • (ב) ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇
  • (ב) ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇

כדי להעריך את תקציב השגיאה הכולל מטמפרטורה, השתמש בנוסחה:

(FLT:0) טרור tempco gain × ⁇ T × המלא scale) + (tempco offset × ⁇ T) + (tempco reference × ⁇ T × קריאה) + רעש increase.

לדוגמה, לוח DAQ עם קצב רווח של 5 ppm / ° C, מפלס התחלה של 2 pm / ° C, התייחסות tempco של 10 pm / ° C, וטמפרטורה של 20 מעלות צלזיוס עשויה להציג שגיאות של 0.01% של קריאה בתוספת 0.004% של קנה מידה מלא - מספיק כדי להפחית מערכת 16 סיביות לפתרון יעיל 14 סיביות.

אסטרטגיות של מיגור ב Depth

שליטה סביבתית

השיטה הפשוטה ביותר להפחית את השפעות הטמפרטורה היא להחזיק את חומרת DAQ בטמפרטורה קבועה.זה יכול להיות מושג באמצעות:

  • (ב) [ה]ב[[1724]], [[1924]], [[1924]], [[1924]]]], [[1924]]]], [[1924]]]], [[1924]]]]]], [[1924]]]]]], [[1924]]]]]]]]]]]], [[1924]]]]]]]]]]]], [[1924]]]]]]]]]]]]]]]], [[1924]]]]]]]]]]]]]] ו[[1924]]]]]]
  • (ב) ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇
  • (ב) ,0) , ⁇ ⁇ (ב) למתקנים חיצוניים המונעים הדבקה ושמירה על טמפרטורה מינימלית מעל הנקודה.

B. Component Selection and Derating

השקעה בחומרה DAQ מדורג במפורש עבור טווח הטמפרטורה הצפוי.

  • ADCs ו- Op-amps עם סחף נמוך (ultra-precision אמפים כמו AD8628 יש 0.002 μV / ° C סחף).
  • כינויי וולטאג כמו LTZ1000 או MAX6126 עם tempco מתחת 1 ppm / ° C.
  • שימוש במרכיבים "טווח טמפרטורה צבאי" כאשר ניתן – אם כי הם עולים יותר, הם מספקים ביצועים מובטחים.

ניהול תרמי ו-Leout

לוח מעגלים מודפס תקין (PCB) עיצוב מצמצם את הדימום העצמי ואת ה ⁇ התרמית:

  • (ב) ⁇ :0) ⁇ של רגולטורים מתחים 1(FIRLT) ורכיבי חשמל כדי לנתק חום מאזורים אנלוגיים רגישים.
  • (ב) ,0) ,החלות הירוממיות (ה) לרכיבים שצריכים להיות מבודדים מטמפרטורת הדירקטוריון.
  • (ב) ,0) ,4 מטוסים אנלוגיים וקרקע דיגיטלית (FLT:1) כדי להפחית את הפיכה רעש, אך גם כדי להימנע מיצירת נתיבים תרמיים.
  • (ב) ויקרא י"א: "ה', ויקרא י', ו'' (ב)' (ב') ויקרא י"ד)
  • (FLT:0) AirflowveFLT:1) - קירור אוויר מאולץ (עפיפונים) יכול לשמור על טמפרטורה אחידה אך עשוי להציג רטט; לשקול מעריצים נמוכים או פתרונות פסיביים.

D. רגיל קליברציה ו Compensation

אפילו עם שיטות טובות ביותר, סחף טמפרטורה לא ניתן לחסל לחלוטין.

  • (ב) בטמפרטורה המתוכננת (למשל, רבעון או אחרי שינויים גדולים בטמפרטורה).
  • (FLT:0) In-system Auto-calibrational ReLT:1) באמצעות הפניות פנימיות ו- Zero-scale קלטות.מודולים מודרניים רבים DAQ כוללים פיקוד "calibrate" שמתקן את ההתחלה ולהשיג באמצעות התייחסות מדויקת פנימית.
  • (FLT:0)Software פיצויי FLT:1 על ידי מדידת טמפרטורת המכשיר באמצעות חיישן על הסיפון (למשל, LM75 או ADT7310) ועיבוד עקומות תיקון.זה יעיל במיוחד כאשר ה-tempco הוא מוכר היטב.

E. Redundancy and Shielding

עבור יישומים קריטיים, לשקול מחדש ערוצי DAQ עם לוגיקה הרוב להצביע.בנוסף, להשתמש בכלובים פאראדיי ומגן תרמי לבודד את מערכת DAQ מקרינה חום והתערבות אלקטרומגנטית המלווה לעתים קרובות קיצוניות טמפרטורה. מדריך מפורט על ניהול תרמי עבור אלקטרוניקה זמין מ FLT:0 הנדסת ToolFLT:1 .

יישומים אמיתיים ו Case Studies

תהליך התעשייה

במפעל כימי, מערכות DAQ לפקח על לחץ, זרימה וטמפרטורה של כורים.טמפרטורות Ambient יכול להשתנות מ −10 ° C בחורף עד 50 מעלות צלזיוס ליד צינורות קיטור.ללא ניהול תרמי תקין, סחף במעגל המיזוג של הלחץ גרם שגיאה של 0.5 אחוזים בקריאה, המוביל בקרת כור לא יעיל.לאחר התקנת מתחם מבוקר אקלים ושימוש ב- DAQ תעשייתי עם 10 ° C5 ירידה שגיאה מתחת ל-0.

מידע סביבתי

(הג'רונים המופעלים על ידי סוללה באזורים הרריים מרחוק חווים תנודות טמפרטורה טבולית של 30 מעלות צלזיוס או יותר.הפניה הפנימית של ה-Gigger יכולה להיסחף עד 0.2 מעלות צלזיוס ליום אם לא מקבילה. על ידי שילוב של התייחסות למתח נמוך-drift (למשל, LTC66-2.5) וליישם תיקון תוכנה באמצעות קריאה ממת, נשמר על ידי ±F ° C.

מבחן ופעולות מדידה

מערכות DAQ למטרופולין דורשות לעיתים קרובות יציבות טמפרטורה בתוך ±0.1 ° C. הם משתמשים בתי סגורה תנור עבור כל DAQ כאסאסאסים בתוספת המכשיר תחת בדיקה.מתח ההתייחסות עצמו עשוי להיות מתנור (כמו LTZ1000 תנור). גישה זו מניבה שיעורי סחף של פחות מ 0.1m / C.

תקני בדיקות טמפרטורה

בדיקת ביצועי החומרה DAQ על פני הטמפרטורה כוללת בדיקות סטנדרטיות:

  • (FLT:0) Temperature רכיבה על אופניים FLT:1 לכל JEDEC JESD22-A104 או MIL-STD-883 שיטת 1010 - לחשוף את המכשיר לחום וקור קיצוני עם מעברים מהירים.
  • (ב) ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ ⁇
  • מבחן החיים של המדינה (FLT:0Steady-state Life TestFLT: 1) בטמפרטורה גבוהה (למשל, 85 מעלות צלזיוס ל 1000 שעות) כדי להעריך סחף ומרכיב ההזדקנות.

יצרנים לעתים קרובות מפרסמים נתונים ממבחנים אלה.עבור יישומים בעלי אחריות גבוהה, מבקשים את הדו"ח "אפיון זמני" מהמוכר.הנתונים האלה עוזרים לחזות סחף חיים ולהגדיר מרווחי זמן.

מסקנה

וריאציות טמפרטורה הן אחד הגורמים הסביבתיים הנפוצים ביותר המשפיעים על ביצועי רכישת נתונים.מעבור חיישן ו- ADC אי-ליניאליות לתזמון Jitter ונזקי רכיב קבוע, ההשפעות משתרעות על כל שרשרת האותות.עם זאת, באמצעות תכנון מערכת קפדני - כולל בקרה סביבתית, בחירת רכיב עם משככי טמפרטורה נמוכה, ניהול תרמי, ו cabration קבוע - אתגרים אלה יכולים להיות ביעילות להפחית את המהנדסים.

כפי שמדידה דורשת לדחוף לכיוון דיוק גבוה יותר, רוחב פס רחב יותר, ופריסה ארוכה יותר, החשיבות של יציבות תרמילית רק עולה. על ידי להישאר מעודכן על המפרטים של רכיבי DAQ ולאמץ שיטות הטובות ביותר המפורטות כאן, אתה יכול להבטיח שהמערכות שלך לבצע באופן אמין אם במעבדה מבוקרת אקלים או סביבה חיצונית קשה.