ניתוח מרחקים בין-אטומיים גבישים מורכבים חיוני להבנת התכונות וההתנהגויות שלהם.כמה שיטות מעשיות משמשים במעבדות כדי לקבוע את המרחקים האלה במדויק. מאמר זה דן כמה מהטכניקות הנפוצות ביותר המועסקות בתחום זה.

X-ray Diffraction (XRD)

דיפרקציה רנטגן היא שיטה נפוצה לניתוח מבני קריסטל.זה כרוך לבישת צילומי רנטגן גביש ומדידה את הזווית ואטמוסות של השדות המטבוליים.ההנתונים שהושגו מאפשרים חישוב של עמדות אטומיות ומרחקים בין-אטומיים.

High-resolution XRD יכול לפתור מבנים מורכבים על ידי ניתוח דפוסי דיפרקציה.זה שימושי במיוחד עבור חומרים גבישיים עם תאים גדולים יחידה או מינים אטומיים מרובים.

ניוטרון דיפר

diffraction Neutron דומה XRD אבל משתמש נויטרונים במקום צילומי רנטגן. Neutrons הם רגישים יותר לאטומי אור ויכולים להבחין בין איזוטופים, מה שהופך את השיטה הזאת לערך עבור גבישים מורכבים עם אלמנטים מרובים.

טכניקה זו מספקת מידע מפורט על עמדות אטומיות, במיוחד עבור אטומי מימן, שקשה לזהות עם XRD.

אלקטרון מיקרוסקופיה

Transmission אלקטרוני microscopy (TEM) יכול לצלם ישירות סידורי אטומי גבישים. High-resolution TEM מאפשר הדמיה של עמודות אטומיות, המאפשר מדידה של מרחקים בין-אטומיים ב nanoscale.

ניתן גם לנתח את דפוסי ה diffraction אלקטרון כדי לקבוע סימטריה גבישית וספאם בין-אטומיים.

טכניקות נוספות

שיטות אחרות כוללות את ספקטרום ראמן וסורק microscopy מנהרה (STM) טכניקות אלה מספקות מידע משלים על אינטראקציות אטומיות ומרחקים במבנים מורכבים.

  • X-ray Diffraction (XRD)
  • ניוטרון דיפר
  • אלקטרון מיקרוסקופיה
  • ראומן Spectroscopy
  • מנהרת מנהרה Microscopy (STM)