La diffrazione a raggi X (XRD) è una tecnica utilizzata per analizzare la struttura cristallina dei materiali, che fornisce dati che possono essere utilizzati per calcolare le distanze interplanari, che sono distanze tra i piani atomici in un cristallo.

Comprendere i dati di diffrazione a raggi X

I dati XRD sono generalmente presentati come un modello di diffrazione, che mostra picchi ad angoli specifici, che corrispondono alla diffrazione dei raggi X da parte dei piani di cristallo.

Calcolo delle aree interplanarie

La legge di Bragg è l'equazione fondamentale utilizzata per calcolare le spaziature interplanarie.

nλ = 2d sin θ

Dove:

  • n] è l'ordine di diffrazione (solitamente 1)
  • λ] è la lunghezza d'onda della radiografia
  • d] è la spaziatura interplanare
  • θ] è l'angolo di Bragg (mezza dell'angolo di diffrazione)

Rearrangere l'equazione per risolvere per d dà:

d = λ / (2 sin θ)[]

Applicare la Calcolo

Per determinare la distanza interplanare, misurare l'angolo di diffrazione (2θ) dal modello. Dividere questo angolo di 2 per trovare θ. Utilizzare la lunghezza d'onda conosciuta della sorgente di raggi X, tipicamente 1,54 Å per la radiazione Cu Kα.

Ad esempio, se un picco appare a 2θ = 30°, poi θ = 15°.

d = 1.54 Å / (2 sin 15°) ≈ 1.54 Å / (2 × 0.2588) ≈ 1.54 Å / 0.5176 ≈ 2.97 Å