Тестирование и проверка цифровых электронных схем имеет важное значение для обеспечения их надлежащей работы и надежности. Для выявления неисправностей, проверки функциональности и улучшения конструкции схем используются различные практические методы. В этой статье рассматриваются общие методы, используемые в процессе тестирования и проверки.

Функциональное тестирование

Функциональное тестирование включает проверку того, выполняет ли схема свои предполагаемые функции в нормальных условиях работы. Оно включает в себя применение входных сигналов и наблюдение выходных реакций для проверки правильной работы. Этот метод помогает выявить логические ошибки и неисправные компоненты.

Обсуждение Borderary Scan Testing

Тестирование пограничного сканирования, также известное как JTAG-тестирование, используется для сложных схем со встроенными граничными сканирующими ячейками. Это позволяет тестировать межсоединения и обнаруживать неисправности, такие как открытые или короткие замыкания, без физического доступа к внутренним узлам. Этот метод эффективен для собранных плат.

Автоматизированное испытательное оборудование (ATE)

Автоматизированное испытательное оборудование включает в себя использование специализированного оборудования и программного обеспечения для выполнения комплексного тестирования цифровых схем. ATE может быстро выполнять серию тестов, измерять параметры и регистрировать результаты, что делает его пригодным для тестирования массового производства и контроля качества.

Общие методы тестирования

  • Тестирование в замкнутом пространстве: Проверка отдельных компонентов и соединений на густонаселенной плате.
  • Функциональное тестирование: Проверяет общую работу схемы с реальными или смоделированными входами.
  • Анализ сигналов: Использует осциллографы и логические анализаторы для наблюдения за сигнальными сигналами и временем.
  • Моделирование ошибок: Вводит известные ошибки для проверки возможностей обнаружения.