Проектирование цифровых схем с учетом тестируемости имеет важное значение для обеспечения надежности и простоты обслуживания. Тестируемость включает в себя создание схем, которые могут быть легко протестированы на наличие ошибок и неисправностей, сокращение времени отладки и улучшение общего качества. В этой статье рассматриваются стандарты и методы, используемые при разработке тестируемых цифровых схем.

Стандарты в дизайне испытательности

Стандарты содержат руководящие принципы разработки тестируемых цифровых схем. Они обеспечивают согласованность и совместимость различных систем и методов тестирования. Общие стандарты включают IEEE 1149.1, также известный как JTAG, который определяет стандартный интерфейс для тестирования и отладки интегральных схем.

Соблюдение этих стандартов помогает дизайнерам включать функции тестирования на начальном этапе проектирования, облегчая обнаружение и диагностику ошибок позже.

Методы повышения проверяемости

Для повышения проверяемости цифровых схем используется несколько методов. К ним относятся:

  • Разработка для тестируемости (DfT): Включение тестовых точек и цепей сканирования для облегчения тестирования.
  • Built-In Self-Test (BIST): Встраивание возможностей тестирования в схему для выполнения самодиагностики.
  • Модели ошибок: Использование моделей, таких как ошибки с застрявшими в системе, для моделирования и обнаружения потенциальных ошибок.
  • Граница сканирования: Использование граничных сканирующих ячеек для проверки взаимосвязей между чипами.

Преимущества тестируемости

Внедрение функций проверяемости в цифровых схемах дает ряд преимуществ. Это сокращает время тестирования, улучшает покрытие неисправностей и упрощает процессы отладки. Кроме того, повышает надежность конечного продукта и снижает затраты на техническое обслуживание в течение срока его службы.