การ วัด และ การ คํานวณ กระบวนการ การ ทํา ให้ เป็น ไป ได้: การ เข้า ไป ถึง หก ซิก มา

การ วัด และ คํานวณ อย่าง ถูก ต้อง จําเป็น สําหรับ การ จัด การ กระบวนการ อย่าง มี ประสิทธิภาพ

การเข้าใจความน่าดึงดูดของโพรเซส

ความสามารถในโพรเซสเปรียบเทียบความแปรผันของโพรเซสกับข้อจํากัดของโพรเซส มันแสดงให้เห็นว่าโพรเซสสามารถผลิตผลลัพธ์ภายในขอบเขตที่ยอมรับได้หรือไม่

การวัดความจุของโพรเซส

เพื่อวัดความสามารถในโพรเซส ให้เก็บข้อมูลจากโพรเซสตลอดระยะเวลาของตัวแสดงเหตุการณ์ คํานวณค่ากลางและค่าเบี่ยงเบนมาตรฐาน จากนั้นค่าสถิติเหล่านี้จะถูกใช้ในการพิจารณาถึงความสามารถในการตรวจสอบ

การคํานวณความจุในการแสดงผล

ร่องรอยที่พบบ่อยที่สุดคือ

• [[FLT: 0] Cp: การวัดความสามารถในโพรเซส คาดเดากระบวนการกลาง (FLT:1).
• [FLT: 0] Cpk: บัญชีสําหรับโพรเซสศูนย์และความแปรผัน
• [FLT: 0]. Ppk: ใช้ข้อมูลจริงในกระบวนการ, สะท้อนถึง ผลของโลกแห่งความเป็นจริง.

การคํานวณเกี่ยวข้องกับค่าเฉลี่ย, ค่าเบี่ยงเบนมาตรฐาน, และข้อจํากัดค่าที่ตั้ง ตัวอย่างเช่น, Cpk ถูกคํานวณเป็นต่ําสุด:

[[FLT: 0]] (USL - ค่าเฉลี่ยของ) / (3 × เบี่ยงเบนมาตรฐาน) และ (ม.ร. (ม. – LSL) / (3 × เบี่ยงเบนมาตรฐาน).

โปรแกรมต่าง ๆ ที่ใช้ได้

การ วัด และ คํานวณ ความ สามารถ ของ กระบวนการ ต่าง ๆ เป็น ประจํา ช่วย ระบุ บริเวณ ที่ จําเป็น ต้อง ปรับ ปรุง.