การ ออก แบบ เพื่อ ทดสอบ ความ เป็น ไป ได้: มาตรฐาน และ เทคนิค ใน การ เปลี่ยน แปลง ทาง ดิจิตอล

การ ออก แบบ ระบบ ดิจิตอล ซึ่ง มี ความ สามารถ ใน การ ตรวจ สอบ เป็น สิ่ง จําเป็น เพื่อ จะ ไว้ วางใจ ได้ และ ทํา ให้ มั่นคง การ บํารุง รักษา

มาตรฐาน ใน การ ตรวจ สอบ

มาตรฐานต่าง ๆ ให้แนวทางการพัฒนาวงจรดิจิตอลแบบทดสอบได้ เพื่อให้แน่ใจว่าจะเข้ากันได้และเข้ากันได้กับระบบและวิธีการทดสอบอื่น ๆ มาตรฐานทั่วไปนี้รวม IEEE 1149.1 ด้วย ซึ่งรู้จักในชื่อ ETAG ซึ่งกําหนดความเกี่ยวข้องมาตรฐานสําหรับการทดสอบและการถอดรหัสของวงจร

การ ปรับ ปรุง มาตรฐาน เหล่า นี้ ช่วย ให้ ผู้ ออก แบบ รวม ลักษณะ การ ทดสอบ ระหว่าง ระยะ เริ่ม ออก แบบ ทํา ให้ การ ตรวจ และ การ วินิจฉัย ผิด ง่าย ขึ้น ใน ภาย หลัง.

เทคนิค สําหรับ การ ตรวจ สอบ

เทคนิค เหล่า นี้ รวม ถึง:

• [FLT: 0]. ดีเซ็นสําหรับการทดสอบความง่าย (DFT): การรวมคะแนนการทดสอบและห่วงโซ่สแกน เพื่อทดสอบอย่างสะดวก.
• [FLT: 0] Built-in elf-Tist (Bistists) ความสามารถในการทดสอบฝังตัวภายในวงจรเพื่อทําการวิเคราะห์ตัวเอง (FLT:1).
• [FLT: 0] ออกแบบโมเดล: ใช้แบบจําลองเช่น ติดอยู่ติดฟัน ข้อเสียเพื่อจําลองและตรวจจับข้อผิดพลาดที่เป็นไปได้
• [FLT: 0] สแกน: ใช้เซลล์สแกนขอบเขตทดสอบการเชื่อมระหว่างชิป (FLT:1)

ผล ประโยชน์ จาก การ ทดสอบ

การ ทดสอบ ความ สามารถ ใน การ ทดสอบ ใน หมวด ดิจิตอล ช่วย ลด เวลา ทดสอบ ลด ลง ช่วย ลด การ ทัก ท้วง และ ลด กระบวนการ ปรับ ปรุง การ ปรับ ปรุง ให้ ดี ที่ สุด นอก จาก นั้น การ ทดสอบ นี้ ยัง ช่วย ให้ ผล ผลิต ใน ขั้น สุด ท้าย มี ความ น่า เชื่อ ถือ มาก ขึ้น และ ช่วย ลด ค่า ใช้ จ่าย ใน การ บํารุง รักษา ให้ คง อยู่ ต่อ ไป ได้