การคํานวณค่าต่ําสุดที่จับได้ ขนาดตัวฟลอธในการทดสอบรังสีรังสี: ทฤษฎีและการฝึก

การตรวจดีเอ็นเอเป็นวิธีการไม่ทําลายของวัสดุ การตรวจพบข้อบกพร่องที่น้อยที่สุดจําเป็นสําหรับการตรวจสอบคุณภาพและความปลอดภัยในอุตสาหกรรมต่างๆ บทความนี้อธิบายทฤษฎีเบื้องหลังการคํานวณขนาดนี้ และวิธีการนําไปใช้ในการฝึกฝน

พื้นหลังแบบอัตโนมัติ

หลักพื้นฐานเกี่ยวกับความเข้าใจความสัมพันธ์ระหว่างขนาดข้อบกพร่อง และความสามารถในการแยกแยะมันจากเสียงรบกวนภายในระบบ

คณิตศาสตร, ขนาดข้อบกพร่องที่ตรวจจับได้น้อยที่สุด (d) สามารถประมาณได้โดยใช้สูตร:

d= (k elegs ⁇ ) / C

โดย. k เป็นค่าคงที่จากระดับความมั่นใจ ⁇ เป็นค่าเบี่ยงเบนมาตรฐานของเสียงรบกวนพื้นหลัง และC เป็นความเหล่ ความแตกต่างของเสียงรบกวนระบบ

โปรแกรมต่าง ๆ ที่ใช้ได้

ในการฝึกนี้ ช่างเทคนิคจะปรับระบบรังสีแบบกราฟิก โดยใช้มาตรฐานอ้างอิงที่มีขนาดข้อบกพร่องที่รู้จัก โดยการวิเคราะห์ภาพต่าง ๆ พวกเขาวิเคราะห์ความไวและความไวของระบบ จากนั้นตัวแปรเหล่านี้ถูกใช้เพื่อประเมินข้อบกพร่องที่น้อยที่สุดที่สามารถตรวจจับได้

การเพิ่มความสามารถในการตรวจสอบนี้ รวมถึงคุณภาพของฟิล์ม ตัวแปรการรับแสง และทักษะการดําเนินการ การปรับตั้งและการทดสอบคุณภาพ จะช่วยรักษาความสามารถการตรวจสอบระบบได้

การพิจารณากุญแจ

• [FLT: 0] การแก้ไข : มติที่สูงกว่าทําให้การตรวจสอบข้อบกพร่องดีขึ้น
• [FLT: 0] ความไวต่อแสง: ความเหลื่อ ความแตกต่างที่ดีกว่าทําให้เห็นข้อบกพร่องที่เล็กกว่าได้
• [FLT: 0] คุณสมบัติเชิงอนิจกรรม : ความไม่เท่ากันและหนาส่งผลกระทบต่อคุณภาพภาพ
• [FLT: 0] การจัดอันดับ: ระบบปกติตรวจสอบให้แน่ใจว่ามีประสิทธิภาพคงที่