การประมาณการของพื้นที่ตาย และการบริโภคพลังงานจําเป็นสําหรับการออกแบบตัววัดขนาดใหญ่ และเครื่องบันทึกในวงจรการรวม
การ ประเมิน ค่า ที่ ดี ใน เขต ที่ แห้ง แล้ง
บริเวณ ที่ มี การ เสีย ชีวิต พาด พิง ถึง ขนาด ร่าง กาย ของ ระบบ วงจร บน ชิป.
เพื่อ จะ ประเมิน ดู ว่า มี บริเวณ ตาย อยู่ เท่า ไร ให้ พิจารณา พื้น ที่ ต่อ บิต และ คูณ ด้วย จํานวน บิต.
การปรับค่าพลังงาน
การ ใช้ พลัง งาน ใน การ วัด และ การ จด บันทึก ส่วน ใหญ่ ประกอบ ด้วย ส่วน ประกอบ ที่ ทํา ให้ เปลี่ยนแปลง และ ทํา ให้ เกิด กระแส ไฟฟ้า ที่ แปรปรวน.
พลัง งาน ที่ ทํา ให้ เกิด ความ ถี่ สูง ขึ้น เกี่ยว ข้อง กับ การ คํานวณ การ เปลี่ยน แปลง, การ รับ น้ํา หนัก, ความ ดัน ความ ดัน, และ ความ ถี่ ของ นาฬิกา.
ปัจจัย ต่าง ๆ ที่ กระทบ การ ประมาณ
- โหนดเทคโนโลยี (e.g., 7nm, 14nm)
- ตัวขัดแย้งขนาด (จํานวนบิต)
- สถาปัตยกรรม การ เปลี่ยน แปลง (ความ หลาก หลาย, ความ ทรหด)
- กําลังสลับกิจกรรมและรูปแบบข้อมูล
- โพรเซสต่าง ๆ และ ความอดทนการผลิต