ความ ก้าว หน้า เมื่อ เร็ว ๆ นี้ ได้ ปรับ ปรุง ความ สามารถ และ ความ สามารถ ของ กล้อง จุลทรรศน์ ใน การ ตรวจ สอบ ด้วย อิเล็กตรอน ให้ ดี ขึ้น โดย เฉพาะ อย่าง ยิ่ง ใน การ ถ่าย ภาพ ขอบ เขต ของ พืช ใน โลหะ และ เซ รามิค.
การ เข้าใจ ความ หมาย ของ ความ หมาย
การ มอง เห็น ขอบ เขต เหล่า นี้ อย่าง ละเอียด ช่วย ให้ นัก วิทยาศาสตร์ เข้าใจ โครง สร้าง และ พฤติกรรม ของ มัน ใน ระดับ อะตอม.
ความ ก้าว หน้า ทาง เทคโนโลยี เมื่อ เร็ว ๆ นี้
การ ตรวจ ด้วย กล้อง สแกน อิเล็กตรอน เมื่อ เร็ว ๆ นี้ รวม ถึง:
- [FLT: 0] แก้ไขการกระตุ้น: กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนขั้นสูง ตอนนี้รวมการแก้ความบิดเบือนซึ่งทําให้ภาพชัดเจนและความละเอียดชัดเจนมากขึ้น
- [FLT: 0] เครื่องเร่งแรงดัน: การใช้ไฟฟ้ามากกว่า 300 kV อนุญาตให้เจาะลึกลงไป และลดความเสียหายของตัวอย่าง ทําให้มองเห็นได้ชัดเจนขึ้นของขอบเขตข้าว
- [FLT: 0] In-Situ phicercogram: เทคนิคใหม่ช่วยให้นักวิจัยสังเกตเห็น ขอบเขตข้าว ภายใต้สภาวะต่าง ๆ เช่น การทําความร้อนหรือความเครียดทางเครื่องยนต์
- 3D ถ่ายภาพ: การคอมบินด์อิเล็กตรอนแบบประกอบการจําลอง ด้วยภาพการวัดค่าสูง ให้มุมมองสามมิติของโครงสร้างขอบเขตธัญพืช
ผล กระทบ ต่อ วิทยาศาสตร์ วัตถุ
การ ที่ มนุษย์ ใช้ เทคโนโลยี เหล่า นี้ มี ความ หมาย ลึก ซึ้ง ต่อ วิทยาศาสตร์ ด้าน วัสดุ การ วิจัย นี้ ช่วย ให้ เรา รู้ จัก ประมาณ การ ใช้ เคมี, โครง สร้าง, และ วิวัฒนาการ ใน การ ทํา งาน ของ พืช มาก ขึ้น ตัว อย่าง เช่น การ เข้าใจ พฤติกรรม ของ พืช ที่ มี ขอบ เขต เป็น ข้าว สามารถ ช่วย ใน การ ออก แบบ อัล ลอย ให้ แข็ง แรง และ แข็ง แรง ขึ้น
ทิศทางในอนาคต
การ ศึกษา วิจัย ใน อนาคต จะ มุ่ง หมาย ที่ จะ เพิ่ม ความ คิด จิตใจ, ลด ความ เสีย หาย ของ ตัว อย่าง, และ พัฒนา เทคนิค การ ถ่าย ภาพ จริง ๆ