ความ ก้าว หน้า เมื่อ เร็ว ๆ นี้ ใน เทคนิค สเปกโตรคอป ได้ ปรับ ปรุง ความ สามารถ ของ เรา ใน การ วิเคราะห์ สาร เคมี ของ ขอบ ข้าว ใน วัสดุ.
การ เข้าใจ ความ หมาย ของ ความ หมาย
การ แยกแยะ ของ ผลึก ที่ มี การ นํา ไป ผนวก เข้า กับ วัสดุ โพ ลิ ค ลิ ค เทิล และ โครง สร้าง ของ มัน มี อิทธิพล ต่อ คุณสมบัติ ทาง กายภาพ หลาย อย่าง การ จําแนก ขอบ เขต เหล่า นี้ ใน ระดับ อะตอม ช่วย นัก วิทยาศาสตร์ ให้ ตัด วัสดุ สําหรับ ใช้ ใน การ นํา ทาง ที่ เจาะจง
เทคนิกแบบสเปกโทรสโคปแบบโบราณ
ตามประวัติศาสตร์แล้ว เทคนิคเช่น Auger ectron Spectr Crography (AS) และ X-ray Epericron Spectr Excectr perition (XPS) เคยถูกใช้ในการศึกษาเคมีขอบเขตเมล็ดข้าว
ความก้าวหน้าล่าสุดในกล้อง
วิธี ใหม่ ๆ ได้ เอา ชนะ ข้อ จํากัด หลาย อย่าง ที่ เคย มี มา ก่อน.
- [FLT: 0] Atom Probe Tomphic (APT): จัดทําแผนที่ประกอบอะตอมขนาด 3 มิติ พร้อมความไวสูง (FLT:1).
- [FLT: 0] ส่งสัญญาณอิเล็กโทรนิกส์อิเล็กโทรนิค (STEM) ที่มีอิเลคทรอนิกส์ สเปคเตอร์พลังงานเสีย (ELS) เสนอรายละเอียดการวิเคราะห์สารเคมีที่ความละเอียดนาโนเมตร.
- [FLT: 0] Synchrorono-base-ray ([FLT: 1) เปิดการวิเคราะห์ขอบเขตข้าว ภายใต้สภาวะแวดล้อมต่างๆ
การ จําลอง วิทยาศาสตร์ วัตถุ
ความ รู้ นี้ ช่วย ใน การ ออก แบบ วัสดุ ต่าง ๆ ด้วย ประสิทธิภาพ และ ความ ยืน ยาว ที่ เสริม ให้ แข็ง แรง ขึ้น.
ทิศทางในอนาคต
การ ทํา ให้ มี การ ตรวจ สอบ อย่าง ละเอียด เกี่ยว กับ ปรากฏการณ์ เกี่ยว กับ ธัญพืช ที่ ซับ ซ้อน มาก ขึ้น.