วิธี การ ที่ ใช้ ได้ ผล สําหรับ การ ตรวจ วินิจฉัย

การ ตรวจ ด้วย กล้อง อิเล็กทรอนิกส์ เป็น เครื่อง มือ ที่ มี พลัง มาก ใน การ วิเคราะห์ โครง สร้าง ผลึก ที่ มี ความ ละเอียด สูง นัก วิทยาศาสตร์ สามารถ ระบุ ได้ ว่า มี จุด บกพร่อง หลาย อย่าง ที่ อาจ มี อิทธิพล ต่อ คุณสมบัติ ของ วัตถุ บทความ นี้ จะ พิจารณา วิธี การ ตรวจ จับ ข้อ บกพร่อง ของ โครง สร้าง ผลึก โดย ใช้ เทคนิค การ ตรวจ จับ อิเล็กตรอน

ชนิดของการถอดรหัสคริสตัล

คริสตัล บกพร่อง มี จุด บกพร่อง, การ แยก ตําแหน่ง, ข้อ บกพร่อง ที่ ทับ ถม กัน, และ ขอบ เขต ของ เมล็ด.

อนุภาคของอิเลคโทรนิค

เทคนิค การ ตรวจ ด้วย อิเล็กตรอน หลาย อย่าง ถูก ใช้ เพื่อ ตรวจ พบ ข้อ บกพร่อง ของ ผลึก ซึ่ง รวม ถึง การ ถ่าย ภาพ ด้วย อิเล็กตรอน สแกน อิเล็กตรอน ใน ฟิล์ม สแกน นิ ว รอน (SEM) และ ไอพ่น แบ็ค แคตเตอร์ ได เฟส (อี บี เอส ดี เอ (อี บี เอส ดี) แต่ ละ ครั้ง จะ ให้ ความ หยั่ง เห็น ที่ ไม่ เหมือน ใคร ใน โครง สร้าง และ ข้อ บกพร่อง ของ ผลึก.

วิธี การ ต่าง ๆ ที่ ใช้ ได้ จริง เพื่อ การ ระบุ ตัว ตัว ผู้ ที่ ถูก ตัด สัมพันธ์

ใน TEM การถ่ายภาพแบบปรับโครงสร้างสูง แสดงให้เห็นว่ามีการแยกส่วนและเรียงข้อผิดพลาดโดยตรง รูปแบบการแยกแยะสามารถบ่งบอกถึงข้อบกพร่องได้โดยมีจุดบิดเบือนหรือการสะท้อนแสงพิเศษ

ตัวบ่งชี้กุญแจของเดโมแครต

• [FLT: 0] วงจรการย้ายถิ่น: มองเห็นเป็นข้อบกพร่องของเส้นตรงในภาพของ TEM
• [FLT: 0] ความหลากหลาย: ในภาพของเทลบ บ่งบอกถึงสนามสายพันธุ์ (TEM)
• [FLT: 0] ความผิดปกติของรูปแบบการรบกวน:[ เช่น จุดตัดหรือจุดเกิน.
• [FLT: 0]. misorations: ตรวจพบผ่าน EBSD การจับคู่