การ ประเมิน อย่าง ถูก ต้อง แม่นยํา ช่วย ป้องกัน ความ ล้ม เหลว และ การ ยืด อายุ ของ อุปกรณ์.

ทดสอบความเครียดทางผิวหนัง

การ ตรวจ ความ เครียด ของ ร่าง กาย เกี่ยว ข้อง กับ การ ทํา งาน ของ MSFET ใน การ วัด อุณหภูมิ ที่ สูง ขึ้น เพื่อ ทํา ให้ เห็น ว่า มี การ ใช้ ความ ร้อน ใน ระยะ ยาว อย่าง ไร วิธี นี้ ช่วย ระบุ ได้ ว่า มี ความ ผิด ปกติ ใด ๆ ที่ เกี่ยว ข้อง กับ ความ ร้อน เช่น การ หนี น้ํา ร้อน หรือ การ ขาด สาร อาหาร การ ตรวจ สอบ พารามิเตอร์ ของ อุปกรณ์ ใน ระหว่าง การ ทดสอบ ช่วย ให้ มี ความ เข้าใจ ลึก ซึ้ง ใน ความ มั่นคง และ ความ ไว้ วางใจ ของ อุณหภูมิ

การ ทดสอบ ความ เครียด ทาง ไฟฟ้า

การตรวจแรงดันไฟฟ้า ใช้แรงม้าสูง หรือกระแสไฟฟ้าที่ขึ้นกับ MOSFET เพื่อประเมินความทนของเครื่อง กระบวนการนี้สามารถเผยความอ่อนแอของอุปกรณ์ใน เกตออกไซด์หรือส่วนประกอบอื่น ๆ การตรวจสอบซ้ําภายใต้เงื่อนไขไฟฟ้าต่าง ๆ ช่วยประเมินความยั่งยืนและความเป็นไปได้ที่ล้มเหลว

ทดสอบ ชีวิต อย่าง เร่ง ด่วน

การทดสอบชีวิตที่เร่งรัดได้นั้น เกี่ยวข้องกับอาการ MOSFET ที่เกิดขึ้นในสภาวะที่รุนแรง เช่น อุณหภูมิสูง และความดันไฟฟ้าสูง เพื่อเพิ่มความเร็วของกลไกความล้มเหลว ข้อมูลที่เก็บได้จากการทดสอบเหล่านี้ ถูกใช้ในการจําลองอายุการใช้งานของอุปกรณ์ภายใต้สภาวะปกติ วิธีนี้จะให้ค่าประมาณการใช้งานของความน่าเชื่อถือในระยะยาวได้จริง

ตัวบ่งชี้ค่ากุญแจ:

  • [FLT: 0] เวลาในการยิงพลาด (MTTF):[FT:1] เฉลี่ยเวลาปฏิบัติการก่อนล้มเหลว
  • [FLT: 0] อัตรา failure: ความถี่ของความล้มเหลวตลอดช่วงเวลาที่ระบุ
  • [FLT: 0] การต่อต้านทางอ้อม : ความสามารถในการลดความร้อนโดยไม่เสื่อมสภาพ
  • [FLT: 0]. ชาร์จ: พลังงานที่จําเป็นในการสลับอุปกรณ์ ส่งผลให้น่าเชื่อถือ