Mahalaga ang pagsukat sa sukat ng distribusyon ng nanoparticles sa iba't ibang aplikasyong pang-inhinyeriya upang matiyak ang kalidad at pagsasagawa. ang tumpak na mga pamamaraang pagsukat ay tumutulong sa pag-desentisa ng mga nanoparticle para sa paggamit sa agham elektroniko, medisina, at materyales. Ang gabay na ito ay nagbibigay ng isang administrative-by-path compenditume ng proseso.
Paghahanda ng mga Saglipay
Magsimula sa pamamagitan ng paghahanda ng isang balon-disperesed nanoparticle sampol. Gamitin ang mga angkop na solvent o dispersants upang maiwasan ang agregasyon. Ensurye Ang sampol ay homogeneous upang makakuha ng maaasahang sukat.
Pagpili ng Pamamaraan sa Pagsukat
Pumili ng angkop na pamamaraan batay sa particle na sukat at materyal. Karaniwang mga pamamaraan kabilang ang Dynamic Light spluing (DLS), Electron Microscopy, at Atomic Force Microscopy (AFM). Ang bawat pamamaraan ay may espesipikong mga bentaha at limitasyon.
Proseso ng Pagsukat
Sundin ang mga tagubilin ng tagagawa para sa piniling pamamaraan. Halimbawa, sa DLS, ilulan ang sampol sa instrumento, magtakda ng parameter, at patakbuhin ang analisis. Para sa microscopy, magdeposito ng kaunting halaga sa isang angkop na substrate at ilarawan ang mga partikulo.
Pagsusuri sa mga Date
Suriin ang nakolektang datos para malaman ang laki ng distribusyon. Gamitin ang mga kasangkapang software upang bigyang kahulugan ang mga resulta, na maaaring kinabibilangan ng mga histagram, mean sukat, at polydispersidad index. Tiyakin ang katumpakan ng datos sa pamamagitan ng pag-uulit ng mga sukat kung kinakailangan.
- Pagdami ng mga sampol ng Ensure
- Pumili ng angkop na paraan ng pagsukat
- Sunding maingat ang mga protocol ng instrumento
- Suriing mabuti ang mga datos
- Paulit - ulit na pagsukat para sa pagbabago