Ang X-ray diffraction (XRD) ay isang teknik na ginagamit upang suriin ang kristal na istraktura ng mga materyales. Ito ay nagbibigay ng datos na maaaring gamitin upang kalkulahin ang mga interplanar division, na ang mga distansiya sa pagitan ng mga atomic na eroplano sa isang kristal. Ang pag-unawa kung paano bigyang kahulugan ang XRD data ay mahalaga para sa materyal na katangian at pagsusuri.

Pag-unawa sa X-ray Diffraction Data

Ang XRD data ay karaniwang inihaharap bilang isang diffraction pattern, na nagpapakita ng mga tuktok sa espesipikong mga anggulo. Ang mga tuktok na ito ay katumbas ng diffraction of X-rays ng mga crystal na eroplano. Ang posisyon ng bawat tuktok ay nauugnay sa interplanar clush sa pamamagitan ng Batas ni Braggg.

Pagkalkula sa mga Palabas na Bulanar

Ang Kautusan ni Bragg ang pangunahing ekwasyon na ginagamit upang kalkulahin ang mga interplanar divisions. Ito ay ipinahahayag bilang:

n Devers = 2d kasalanan ⁇

Saan:

  • n ang order ng diffraction (karaniwan 1)
  • Ang mga galaw ang wavelength ng X-ray
  • d ang interplanar interfact
  • ang Braggle (kalahati ng anggulo ng diffraction)

Muling pag - uulat ng ekwasyon upang lutasin ang d ay nagbibigay:

d = ⁇ / (2 kasalanan ⁇ )

Pagkakapit ng Pagkalkula

Upang malaman ang pagkakaiba ng pagitan ng pagitan, sukatin ang anggulo ng diffraction (2 muscular) mula sa pattern. hatiin ang anggulo na ito ng 2 upang mahanap ang ⁇ . Gamitin ang alam na wavelength ng pinagmulang X-ray, karaniwang 1.54 Å para sa radyasyong Cu Kyrec. luklot ang mga halagang ito sa pormula upang kalkulahin ang d.

Halimbawa, kung ang taluktok ay lumitaw sa 2 muscular = 30°, pagkatapos ⁇ = 15°.

d = 1.54 Å / (2 kasalanan 15°) ⁇ 1.54 ⁇ / (2 × 0.2588) ⁇ 1.54 ⁇ / 0.5176 ⁇ 2.97 ⁇ [