Mahalaga ang pagsubok at ang pagbibigay ng bisa sa digital electronic circuits upang matiyak ang kanilang tamang operasyon at pagkamaaasahan. iba't ibang praktikal na pamamaraan ang ginagamit upang matukoy ang mga fault, matiyak ang functionity, at mapasulong ang disenyo ng sirkito. tinatalakay ng artikulong ito ang karaniwang mga pamamaraan na ginagamit sa pagsubok at proseso ng ekwasyon.

Nakatutuwang Pagsubok

Ang Fuctional testing ay nagsasangkot ng pagsusuri kung ang sirkito ay nagsasagawa ng mga nilalayon nitong tungkulin sa ilalim ng normal na mga kondisyon ng operasyon. Kabilang dito ang paglalagay ng mga input signal at pagmamasid sa mga tugon ng output upang matiyak ang tamang operasyon. Ang paraang ito ay tumutulong upang matukoy ang mga lohikal na pagkakamali at mga malilit na bahagi.

Pagsubok sa Boundary Scan

Ang pagsusuri sa mga sistema ng scan sa mga daan, na kilala rin bilang JTAG testing, ay ginagamit para sa masalimuot na mga sirkito na may magkakaugnay na mga selulang pang - scan.

Automated Test Segment (Parte)

Ang automated Test Employment ay kinasasangkutan ng paggamit ng mga espesyalisadong hardware at software upang magsagawa ng komprehensibong pagsusuri ng mga digital circuit.[update] Ang standing ay maaaring mabilis na magsagawa ng serye ng mga pagsubok, pagsukat ng mga parameter, at mga resulta ng log, na ginagawa itong angkop para sa maramihang pagsusuri ng produksiyon at pagkontrol ng kalidad.

Karaniwang mga Pamamaraan sa Pagsubok

  • In-Circuit Testing: Sinusuri ang indibiduwal na mga sangkap at koneksiyon sa isang mataong lupon ng sirkito.
  • Functional Testing: [nireregula] ang kabuuang operasyong sirkito na may tunay o ginagayang mga input.
  • [[[[T:] Ginagamit ang mga oscilloscope at mga analog na nagsusuri upang maobserbahan ang mga signalform at tiyempo.
  • Fault Simulation:[ Ang mga introduksyon ay alam na may kamalian upang subukin ang mga kakayahan sa pagtutop.