Mahalaga ang pagsukat sa dimplektrikong katangian ng mga materyal na semiconductor para maunawaan ang kanilang elektrikong gawi at pagiging angkop para sa iba't ibang mga aplikasyong elektroniko. ang tumpak na mga pamamaraang pagsukat ay tumutulong sa pag-uuri ng mga materyales at ang mahusay na pag-eensayo ng mga aparatong pagganap.

Karaniwang Pamamaraan ng Pagsukat

Ilang mga paraan ang ginagamit upang malaman ang dimplectric constant at mawalan ng tangent ng mga semiconductor na materyales. Ang mga pamamaraang ito ay iba-iba batay sa frequency range, sampol na anyo, at kinakailangang prekwensiya.

Pamamaraan ng Pag - iingat-Voltage

Ang paraang ito ay kinasasangkutan ng pagsukat ng kapacittansiya ng isang metal-oxide-semiconductor (MOS) na istraktura sa ilalim ng iba't ibang mga pagkiling sa boltahe. ito ay nagbibigay ng impormasyon tungkol sa dimplectric constant at mga interface state.

Hindi Nakikitang Spectroscopy

Ang impendice spectroscopy ay sumusukat sa komplikadong impeachment ng isang materyal sa isang hanay ng mga frequency. Nakatutulong ito sa pagsusuri ng mga proseso ng dilectric revival at mga mekanismo ng pagkawala.

Di - wastong Pamamaraan ng Resonansiya

Ginagamit ng mga pamamaraang ito ang resonant cavies o dilectric resonators upang malaman ang mga katangiang dieslectric sa mga frequency ng microwave.

Sagad na Paghahanda at mga Tip sa Pagsukat

  • Ang mga sampol ng katiyakan ay malinis at walang dumi.
  • Gumamit ng angkop na mga materyales na elektrode upang mabawasan ang resistensiya sa pamamagitan ng contact.
  • Panatilihin ang hindi nagbabagong kondisyon ng temperatura sa panahon ng pagsukat.
  • Regular na gumagawa ng mga instrumentong pang - Calibrate para sa tumpak na mga resulta.