Ang mga kristal na silicon ay mahahalagang sangkap sa mga elektronikong aparato. ang mga elektriko sa loob ng mga kristal na ito ay maaaring makaapekto sa mga katangiang elektrikal at kabuuang pagganap nito. ang pagkilala at ang pag-aartista ng karaniwang mga depekto ay mahalaga para matiyak ang mataas-quality silicon na ginagamit sa paggawa.

Mga Uri ng Karaniwang mga Depekto sa mga Crystal ng Silicon

Ang ilang uri ng depekto ay maaaring mangyari sa mga kristal ng silicon, kasali na ang mga depekto sa punto, mga dispocation, at mga dumi na nasa loob ng bawat depekto.

Mga Epekto ng mga Depekto sa Ekstatibo

Ang mga depekto ay maaaring magpasok ng di - ninanais na mga antas ng enerhiya sa loob ng bandgap, na humahantong sa mas maraming elektrikal na resistensiya, nabawasang pagkilos ng carrier, at nabawasang kahusayan sa paggamit ng aparato.

Karaniwang Problema sa Pagputok

  • Ang nakikitang pagsisiyasat na gumagamit ng microscopy upang makilala ang mga depekto sa ibabaw.
  • Nagsasagawa ng mga pagsubok na elektrikal gaya ng resistansiya at carrier life aspeto.
  • Ginagamit ang X-ray diffraction upang ma-secure ang mga dislocation at panloob na strain.
  • Ang paglalagay ng kemikal na endot upang makita ang mga depekto sa ibabaw ng kristal.

Mga Hakbang sa Pag - iingat

Ang pag-implementasyon ng mahigpit na kontrol sa panahon ng pag-unlad ng kristal, pagpapanatili ng malinis na kapaligiran, at paggamit ng high-purity hilaw na mga materyales ay maaaring magbawas ng defect form. Ang regular na pagsuri at pagkontrol ng kalidad ay mahalaga rin para sa maagang pagtutop.