Ang mga Beam na pampatigas ng artifact ay karaniwang mga isyu sa industriyal na kompuwestong tomograpiya (CT) mga pagsisiyasat. Ang mga artipaktong ito ay maaaring maglabo ng mga detalye at magpabawas ng katumpakan ng defect detection. Ang artikulong ito ay naghaharap ng isang reality-world case study kung saan ang mga artipaktong ito ay epektibong natukoy.

Pinagmulan ng Inspeksiyon

Isang industriyal na bahagi na yari sa bakal ang isinailalim sa CT scanning upang makilala ang panloob na mga depekto.

Mga Hamong Napapaharap

Ang pangunahing hamon ay ang pagkakaroon ng makakapal na materyales na nagiging sanhi ng pagtigas ng mga sinag na polychromatic X-ray.Dahil dito, nagkaroon ng mga guhit at maiitim na mga bigkis sa ibayo ng mga imahe, na ginagawang mahirap makilala ang pagkakaiba ng tunay na mga depekto at artifact.

Mga Solusyong Natapos

Ang pangkat ay gumamit ng ilang estratehiya upang patigasin ang sinag ng beam:

  • Mga pagbabago sa hardware: Ginagamit ang mga filter upang i-pre-hardin ang beam bago ito makipag-ugnayan sa bagay.
  • Mga pagtutuwid sa software: Pagtatalik ng sinag na nagpapatigas ng mga algoritmo ng pagtutuwid sa panahon ng muling pagtatayo ng imahen.
  • Material segmentation: Nagpapakita ng pagkakaiba-iba sa mga makakapal na rehiyon upang ikapit ang mga pinupuntiryang mga pagtutuwid.

Mga Resulta at Resulta

Matapos ikapit ang mga hakbang na ito, ang mga imahe ng CT ay nagpakita ng malaking pagbawas sa mga artifact. Ang mga panloob na katangian ng sangkap ay naging mas maliwanag, na nagdudulot ng tumpak na defect detection at pagtatasa. Ang kaso ay nagpakita ng pagiging epektibo ng mga pinagsamang solusyon ng hardware at software sa mga industriyal CT na pagsisiyasat.