Dijital elektronik devreleri test etmek ve uygulamak, doğru işlem ve güvenilirliklerini sağlamak için gereklidir. Çeşitli pratik yöntemler hataları tanımlamak, işlevselliği doğrulamak ve devre tasarımını geliştirmek için kullanılır.Bu makale test ve geçerlilik sürecinde kullanılan ortak teknikler tartışır.
Fonksiyonel Test
Fonksiyonel test, devrenin normal işletim koşullarında amaçlanan işlevlerini gerçekleştirdiğini kontrol eder. giriş sinyalleri uygulamak ve doğru işlemi doğrulamak için çıktı yanıtlarını gözlemler.Bu yöntem mantıksal hataları ve hataları tespit etmeye yardımcı olur.
Boundary Scan Testi
JTAG testi olarak da bilinen yanlış tarama testi, entegre sınır tarama hücreleri ile kompleks devreler için kullanılır. Interconnections testlerine izin verir ve iç düğümlere fiziksel erişim olmadan hataları tespit eder.Bu yöntem, monte edilmiş devre tahtaları için verimlidir.
Otomatik Test Ekipmanı (ATE)
Otomatik Test Ekipmanı, dijital devrelerin kapsamlı testlerini gerçekleştirmek için özel donanım ve yazılım kullanmayı içerir. ATE, bir dizi test, ölçüm parametrelerini ve log sonuçlarını hızlı bir şekilde yürütebilir, kitlesel üretim testleri ve kalite kontrolü için uygun hale getirir.
Ortak Test Teknikleri
- [FONT:0)In-Circuit Test:) Bir popülasyon devre kurulunda bireysel bileşenler ve bağlantıları kontrol eder.
- [FONTD:0]Functional Test:[Dönetici:[Dönetici:0) Gerçek veya simdi girişlerle genel devre çalışmasını onaylar.
- [FONT:0)Signal Analiz:[Dönetici:[Dönetici:0)[Dönetici:[Dönetici:[Dönetici:[Dönetici: · 1 ) sinyal dalgalarını ve zamanlamayı gözlemlemek için oscilloskopları ve mantık analizörleri kullanın.
- [FONT:0)Fault Simülasyonu:[Dönetici:[Dönetici:0) Tanık yetenekleri test etmek için bilinen hataları tanıtmaktadır.