Kristal kusurları, malzemelerin özelliklerini önemli ölçüde etkileyebilir. Diffraction teknikleri bu kusurları tanımlamak ve analiz etmek için temel araçlardır. Bu makale, kristal immürasyonların diffraction yöntemleri aracılığıyla tespit edilmesinde kullanılan pratik yöntemleri tartışır.

Diffraction Tekniklerinin Temelleri

Diffraction teknikleri X-rays, nötronlar veya kristal bir lattice ile elektronların etkileşimi içerir. Bu dalgalar kusurlarıyla karşılaşıldığında, kristal yapı ve kusurları hakkında bilgi ortaya koyan karakteristik desenler üretirler.

Kristal Defects tespit etmek için ortak yöntemler

  • [FONT=0)X-ray Diffraction (XRD): ), zirve değişimlerini analiz ederek ve genişleterek lattice demlemelerini ve sustuğunu tanımlamak için kullanılır.
  • [FONT:0)Transmission Electron Microscopy (TEM):) Atom çözünürlüğünde kusurları doğrudan görüntüleme sağlar.
  • [FONT:0)Neutron Diffraction:[Dönetici] Işık elementlerine karşı hassastır ve ince yapısal değişiklikleri tespit edebilir.

Diffraction Analysis

Kristal kusurları tanımlamak için, uygulayıcılar genellikle örnek hazırlar, kırılma ölçümlerini gerçekleştirir ve ortaya çıkan kalıpları analiz eder. Üst pozisyonlarda değişiklikler, intensities ve genişlikler, konumlar, vazolar veya yığınlama hataları gibi kusurların varlığını gösterir.

Anahtar Göstergelerin Özeti

  • Peak genişletmek, su veya küçük kristalite boyutunu gösterir.
  • Peak değişimleri lattice demlemeleri göstermektedir.
  • Ek zirveler veya omuzlar ikincil aşamaları veya yığınlama hataları ortaya çıkarabilir.