Dijital devreleri akılda test edilebilirliği ile tasarlayın, güvenilirlik ve bakım kolaylığı sağlamak için gereklidir. Testability, hata ve hatalar için kolayca test edilebilir, zamanınızı azaltır ve genel kaliteyi geliştirir.Bu makale test edilebilir dijital devreleri tasarlarken kullanılan standartları ve teknikleri keşfedin.

Testability Design

Standartlar test edilebilir dijital devreler için kılavuzlar sağlar. Farklı sistemler ve test yöntemleri arasında tutarlılık ve uyumluluk sağlarlar. Ortak standartlar, JTAG olarak da bilinen IEEE 1149.1, aynı zamanda test ve debugging bütünleşik devreler için standart bir arayüz tanımlar.

Bu standartlara başvurmak, tasarımcılar ilk tasarım aşamasında test özelliklerini içerir, daha kolay hata algılamasını ve teşhisi daha sonra kolaylaştırır.

Test edilebilirlik için teknikler

Dijital devrelerin test edilebilirliğini geliştirmek için birkaç teknik kullanılır. Bunlar şunlardır:

  • [DfT:0) Test edilebilirlik için Tasarım (DfT): ) Test noktaları ve tarama zincirleri testlerini kolaylaştırmak için.
  • [FONT:0)Built-In Self-Test (BIST):[Dönetici:0) Devredeki test yeteneklerini kendi kendine özgü bir şekilde gerçekleştirmek için devrede kullanır.
  • [FONT=0)Fault Modelleri:[Dönetici: 0,3) Katı olmayan hataları kullanarak potansiyel hataları tespit etmek ve tespit etmek gibi modeller kullanmak.
  • [[Dönersel Tarama: [Dönerge:[Dönerge: 0,4][/FONT=0)

Testability Of Testability

Dijital devrelerdeki test edilebilir özellikleri birkaç avantaj sunar. Test süresini azaltır, hata kapsamını geliştirir ve ayrıca son ürünün güvenilirliğini artırır ve bakımın ömrünü azaltır.