Yazılım testinde sayısal yöntemler, yazılım kalitesini değerlendirmek için ölçülebilir yollar sağlar. Bu yöntemler, geliştirme için alanları tanımlamaya yardımcı olur ve yazılımların kaliteli standartları sağlar. Bir yaygın metrik kullanılan hata yoğunluğudır, bu da yazılım büyüklüğüne göre kusurların sayısını ölçmektedir.

Defect Wave

Defect yoğunluğu, yazılım büyüklüğü tarafından yapılan toplam kusurların sayısını ikiye bölmek, genellikle kod hatlarında ölçülmelidir (LOC) veya işlev noktalarında ölçülmelidir. Bu metrik, takımların yazılım kalitesini değerlendirmesine ve daha fazla dikkat gerektiren modülleri tanımlamasına yardımcı olur.

Defect Influence

Hata yoğunluğu için formül:

[0]Defect Influence = Defects / Yazılım Boyutu).

Örneğin, bir modül 10 kusura sahiptir ve 1.000 kod hattından oluşursa, hata yoğunluğu kod hattı başına 0.0 defekt yoğunluktır. alt defekt yoğunluk daha yüksek yazılım kalitesini gösterir.

Kaliteyi Geliştirmek için Defect Influence to improve Quality

Zaman boyunca hata yoğunluğu, takımların eğilimleri tanımlamasına ve test çabalarının etkinliğini değerlendirmelerine yardımcı olur. Özel modüllerdeki yüksek hata yoğunluğu hedefli test veya kod incelemesi için gerekli olduğunu göstermektedir.

Takımlar kabul edilebilir hata yoğunluk seviyeleri için eşleri kurabilir ve daha yüksek eşitsizliklerle modülleri düzeltmeye öncelik verebilir.Bu metrik analiz yazılım kalitesinde sürekli iyileştirmeyi destekler.

Ek Sayısal Metrikler

  • Test kapsama yüzdesi Yüzde Yüzde Yüzde
  • Defect keşif oranı
  • Hata ve hataları düzeltmek için zaman
  • Şiddetlilık kusurları