У напівпровідниках можна відбати продуктивність пристрою і надійність. Виявлення і зменшення цих струмів вимагає розуміння їх причин і виконання точних обчислень. У статті розглянуто загальні джерела витоку і забезпечує методи усунення несправностей і рішень.

Розуміння міток

Витікання струмів небажані електричні витрати, які відбуваються при напівпровідниковому пристрої, є в off- стану або в конкретних умовах. Вони можуть призвести до різних механізмів, таких як протікання з'єднання, витік поверхні або витоку воріт в трансмісорів. Точні розрахунки допомагають при діагностуванні причин кореневих і розробці ефективних рішень.

Розрахунок витратних струмів

Для розрахунку струмів витоку використовуйте наступну загальну формулу:

]

Де:

  • I leak] - струм витоку
  • V] - напруга напруги
  • R leak] - опір витоку

За допомогою вимірювання стійкості витоку і застосування напруги інженери можуть оцінити струм витоку і визначити патологічні рівні, що вказують на потенційні проблеми.

Загальні причини і усунення несправностей

Витратні струми можуть бути викликані дефектами, забрудненням або дизайнерськими недоліками. Виявлення несправностей передбачає інспектування пристрою, вимірювання рівня витоку і порівняння їх специфікаціям. До складу технік відносяться:

  • Візуальна перевірка для фізичного пошкодження або забруднення
  • Вимірювання струму витоку на різних напругах
  • Перевірити параметри пристрою на таблиці
  • Виконання температурно-залежних випробувань

Рішення для зменшення витратних потоків

Зменшення струму витоку передбачає як вдосконалення дизайну, так і контроль процесів. Загальні рішення включають:

  • Використання високоякісних матеріалів з низькими деталями дефектів
  • Реалізація належних методів пасивного перевантаження поверхні
  • Оптимальна геометрія пристрою для мінімізації шляхів витоку
  • Застосування схем зміщення, які пригнічують витік