Тестування та перевірка електронних схем є важливим для забезпечення належної роботи та надійності. Для виявлення несправностей використовуються різні практичні методи, контрольні функції та вдосконалення дизайну схеми. У статті розглянуто загальні методи, зайняті в процесі тестування та перевірки.

Функціональне тестування

Функціональне тестування передбачає перевірку, чи виконує контури його призначених функцій в умовах нормальної роботи. Він включає в себе застосування сигналів введення і дотримання вихідних відповідей для перевірки коректної роботи. Цей метод допомагає виявити логічні помилки і несправні компоненти.

Тестування з'єднання

Для комплексних схем з інтегрованими граничними скан-клітинами використовуються двосторонні тести сканування, також відомі як тестування JTAG, які також використовуються для складних схем з інтегрованими граничними скан-клітинами. Це дозволяє проводити тестування взаємозв'язків і виявлення несправностей, таких як відкриті або короткі схеми без фізичного доступу до внутрішніх вузлів. Цей метод ефективний для зібраних плат.

Автоматизоване випробувальне обладнання (ATE)

Автоматизоване випробувальне обладнання передбачає використання спеціалізованих апаратних засобів та програмного забезпечення для проведення комплексного тестування цифрових схем. ATE може швидко виконувати ряд випробувань, вимірювати параметри та результати журналу, що робить його придатним для тестування масового виробництва та контролю якості.

Загальні методи тестування

  • In-Circuit Testing: перевіряє окремі компоненти та з'єднання на зольованій платі.
  • Функціонал Тестування: Визначає загальну операцію схеми з реальними або імітованими входами.
  • Signal Analysis: Використання осцилографів і логічних аналізаторів для спостереження за сигналами хвильових форм і термінів.
  • Моделювання за замовчуванням: Інтродуки відомих несправностей для виявлення тестів.