Розробка цифрових схем з тестовою проникністю в свідомості є важливим для забезпечення надійності та простоти обслуговування. Тестованість передбачає створення схем, які можна легко протестувати для несправностей і помилок, зменшення часу відключення та підвищення загальної якості. У статті досліджуються стандарти та методи, що використовуються при розробці тестових цифрових схем.

Стандарти проектування вимірювальних приладів

Стандарти забезпечують рекомендації щодо розробки тестових цифрових схем. Вони забезпечують консистенцію та сумісність різних систем та методів тестування. Загальні стандарти включають в себе IEEE 1149.1, також відомий як JTAG, що визначає стандартний інтерфейс для тестування та налагодження інтегрованих схем.

Завдяки цим стандартам, дизайнери, які включають в себе функції тесту під час початкової фази проектування, полегшують виявлення несправностей та діагностика пізніше.

Методи підвищення продуктивності

Кілька методів використовуються для підвищення стійкості цифрових схем. До них відносяться:

  • Дизайн тестування (DfT):] // Введення тестових точок та скан-мереж для полегшення тестування.
  • Built-In Self-Test (BIST): Вбудовування можливостей тестування в рамках схеми для виконання самодіагностики.
  • Моделі за замовчуванням: Використання моделей, таких як несправності, щоб імітувати та виявити можливі помилки.
  • Boundary Scan: Використання граничних скан-клітин для тестування взаємозв'язків між чіпсами.

Переваги тестування

Впровадження функцій тестової стійкості в цифрових схемах пропонує кілька переваг. Знижує час тестування, покращує висвітлення несправностей, спрощує процеси знеболювання. Крім того, він підвищує надійність кінцевого продукту і зменшує витрати на утримання по її життю.