Цивільно-імперські послуги; структурне будівництво
Уникаючи поширених помилок у тканинних фотоні інтегрованих контурах
Table of Contents
Виготовлення фотонічних інтегрованих схем (PIC) передбачає точне процеси, які вимагають ретельної уваги до деталей. Помилки при виготовленні можуть призвести до виходу пристрою або підопічних показників. Розуміння поширених помилок і як уникнути їх важливо для успішного виробництва PIC.
Загальні збори
Одна часто помилка - неправильна підготовка підкладки. Контамінанти або нерівності поверхні здатні відшаровуватися і точність шаблонів. Принад ретельне очищення і обробки поверхні знижує цей ризик.
Дизайн і шаблони помилок
Невірно вирівняти маску або дизайн шаблону може викликати несправність пристрою. Використовуючи точні вирівнянні інструменти і перевірки конструкцій, перш ніж погодження допомагає запобігти цих питань. Крім того, помилки в процесах травлення може призвести до об'ємних неточностей.
Матеріал і контроль процесів
Вибираючи невідповідні матеріали або не вдається контролювати параметри процесу, такі як температура і вологість, можуть бути максимально вигідними для пристрою. Регулярне калібрування обладнання та суворий контроль процесу є важливою.
Якість та тестування
Неглекційна ретельна перевірка після виготовлення може призвести до невикоректних дефектів. Впровадження комплексних протоколів перевірок, включаючи оптичні та електричне тестування, забезпечує надійність пристрою.