Рентгенівська дифракція (XRD) - це методика, яка використовується для аналізу кристалічної структури матеріалів. Вона забезпечує дані, які можуть бути використані для розрахунку міжпланових сипок, які знаходяться відстані між атомними площинами у кристалі. Розуміння, як інтерпретувати дані XRD є важливим для характеризації матеріалів і аналізу.

Розуміння даних рентгенівського дифракційного випромінювання

Дані XRD зазвичай представлені як дифракційний візерунок, що показує піки під певним кутом. Ці вершини відповідають дифракції рентгенівських променів кристаловими площинами. Положення кожного піку пов'язана з міжплановим проміжком через закон Bragg.

Розрахунок міжпланарних просторів

Закон Браггса є фундаментальним рівнянням, що використовується для обчислення міжпланових стрибків. Виражається як:

nλ = 2d sin ¢]

Де:

  • n - це порядок дифракції (зазвичай 1)
  • λ] - довжина хвилі рентгенівського випромінювання
  • d] - міжпланорний сип
  • URL - Кут Браг (халф кута дифракції)

Задняючи рівняння для вирішення d дає:

d = λ / (2 гріх ¢)]

Застосування Розрахунок

Для визначення міжпланової сипки вимірюють кут дифракції (2см) з візерунка. Розбавити цей кут на 2, щоб знайти θ. Використовуйте відомий довжина хвилі джерела рентгенівського випромінювання, як правило, 1.54 А для Cu Kα випромінювання. Роз'єм ці значення в формулу для обчислення d.

Наприклад, якщо пік з'являється на 2¢ = 30°, то ¢ = 15°. Використання λ = 1.54 А:

d = 1.54 А / (2 гріх 15°) ≈ 1.54 А / (2 × 0.2588) ≈ 1.54 А / 0.5176 ≈ 2.97 А