X-ray Flourscence (XRF) نُناوَتِی امتحان (NDT) ایک تکنیک ہے جو نقصان پہنچانے کے بغیر مادے کے عناصر کے عناصر کے اندر تجزیہ کرنے کے لیے استعمال کی جاتی ہے. یہ ایکس رے اور ایٹم کے درمیان تعامل پر انحصار کرتی ہے جس میں موجود عناصر کی شناخت اور ان کی شناخت کی جاتی ہے. یہ طریقہ صنعتوں میں بڑی کثرت سے استعمال ہوتا ہے جیسے کہ صنعت، ماحولیاتی تجزیہ، ماحولیاتی تجزیہ اور فلکیات۔

ایکس آر ایف این ڈی ٹی کے بنیادی اصول

XRF NDT میں، ایک پرائمری ایکس رے ریز ریز مواد میں جب ایکس رے سے ایٹموں کو ٹکرانے لگتے ہیں تو وہ انفنٹری کے اندر موجود اندرونی برقیات کو خارجی توانائی سے بھر سکتے ہیں، یعنی ثنائی ایکس ریز کو خارج کرنے کی صلاحیت ہوتی ہے، یہ ایکس ریز کو ہر عنصر کے لیے مخصوص، شناخت اور شناخت کی خصوصیات کی اجازت دیتی ہیں۔

عملی مشورت

اِس کے بعد سے ایکس آر ایف این ڈی ٹی کے ذریعے اِس کی ساخت میں تبدیلی کی گئی ہے ۔اِس میں ایکس رے کی توانائی اور شدت کا اندازہ ہوتا ہے ۔اِس کے بعد سے اِس آلے کو ایکس رے کی پیمائش کرنے کے لیے ڈیٹابیس سافٹ وئیر اِن اشاروں کی تعبیر کرتا ہے۔

ایکس آر ایف این ڈی ٹی کے شناختی مراکز

  • [Non-destructive:] نمونے کی راستی کو درستی قرار دیتا ہے۔
  • Rapid تجزیہ: فوری نتائج فراہم کرتا ہے۔
  • منیمال نمونہ تیاری: اکثر کسی تیاری کے لیے بہت کم درکار ہوتا ہے۔
  • ویاستیلے: [Suital for settle, sympiums, and Pakows.]۔