الیکٹرون کی مدد سے یہ معلوم کرنے کے قابل ہوتا ہے کہ وہ کمپیوٹر کی ترکیبوں کو کیسے استعمال کر سکتا ہے ۔

کرسٹل Defects کی اقسام

کرسٹل کی کمیت میں نقطہ خامیاں، تصادم، کمیت کی کمیت اور اناج کی حدود شامل ہیں۔ہر قسم کے مادے کے رویے پر مختلف اثر انداز ہوتی ہیں اور مخصوص الیکٹرون برقی طریقوں کے ذریعے شناخت کی جا سکتی ہے۔

الیکٹرون مائیکروسافٹ تکنیک کے ذریعے پیدا ہوتا ہے۔

ان میں سے کئی الیکٹرون الیکٹرون میک‌کوفی ( ٹی‌ایم ) ، اسکن‌ٹن الیکٹرون مائیکرو‌کوفی ( ایس ایم ) اور الیکٹرون بیک‌کاسٹر ڈرافٹ ( ای‌بی‌ڈی ) وغیرہ شامل ہیں ۔

دفاعی شناخت کیلئے عملی مشورت

TEM میں ہائی رائز سے ترمیمی امیجنگ براہ راست خامیوں کو ظاہر کرتا ہے اور اسکیچنگ کی غلطیاں براہ راست ظاہر کرتی ہیں. Diffraction کے نمونے جگہ کی حفاظت یا اضافی رائے کے ذریعے غلطیوں کی موجودگی کو ظاہر کر سکتے ہیں۔سی ایم ایل میں الیکٹرون بیککل کے نمونے اناج کی حدود اور مرحلے کے فرقوں کی شناخت کرنے میں مدد دیتے ہیں۔EBD نقاشیس کو تفصیلی یا غیر واضح اعداد و شمار سے واضح کرتے ہوئے

دفاعی اداروں کے کلیدی مراکز

  • [Dislocation settles: [TEM تصاویر میں لائن کی سطح کی سطح نظر آتی ہے۔
  • Contrast struction: میں تناؤ کے میدانوں میں تصویر کشی کی گئی ہے۔
  • [Diffraction sound anamaies: جیسے کہ servince یا اضافی سطحیں۔
  • مِسُوسِفْسَّسَّا: [1] EBSD Mapt.] کے ذریعے سے struction.