پیچیدہ کرسٹلز میں موجود انٹرایٹک فاصلوں کو سمجھنے کے لیے ان کی خصوصیات اور طرزیات کو سمجھنا بہت ضروری ہے. ان فاصلوں کو درست طور پر طے کرنے کے لیے کئی عملی طریقے استعمال کیے جاتے ہیں۔اس مضمون میں اس میدان میں استعمال ہونے والے چند عام تکنیکوں پر بحث کی گئی ہے۔

X-ray Diffraction (XRD)

X-ray seractration ایک وسیع پیمانے پر کرسٹل ترکیبوں کے لیے استعمال ہونے والا طریقہ ہے اس میں ایکس ریز کو کرسٹل پر ترتیب دیا گیا ہے اور اس میں برقی برقی برقی شعاعوں کے زاویوں اور انتسائصوں کی پیمائش کی گئی معلومات حاصل کی گئی ہیں جو ایٹمی پوزیشن اور انٹرٹینمنٹ فاصلوں کے حساب سے ممکن ہیں۔

ہائی رائز سے ser-refous XRD کو struction کے نمونے سے پیچیدہ ترکیبوں کو حل کر سکتا ہے. یہ بالخصوص بڑے یونٹ کے خلیوں یا کئی ایٹمی اقسام کے ساتھ کرسٹل لائن کے مواد کے لیے مفید ہے۔

نیوٹرینو ڈیوٹیرشن

نیوٹرینو actroduction ایکس آر ڈی سے مشابہ ہے لیکن نیوٹرون کو ایکس ریز کی بجائے استعمال کرتے ہیں۔نوترون زیادہ حساس ایٹموں کو روشن کرنے اور آئسوٹوپوں کے درمیان فرق کر سکتا ہے جس سے یہ طریقہ متعدد عناصر کے ساتھ پیچیدہ کرسٹلز کے لیے قیمتی ثابت ہوتا ہے۔

یہ تکنیک ایٹمی پوزیشن کے بارے میں تفصیلی معلومات فراہم کرتی ہے، خاص طور پر ہائیڈروجن ایٹموں کے لیے، جو ایکس آر ڈی سے اخذ کرنا مشکل ہے۔

الیکٹرون مائیکرو‌کوپئے

stronomic electron soundy (TEM) کرسٹلز میں براہ راست ایٹمی تنصیبات کر سکتا ہے۔ ہائیر ریزول ٹی ایم (انگریزی: High-reculation TEM) ایٹمی ستونوں کی نظریاتی منتقلی کی اجازت دیتا ہے، جو انٹراٹک فاصلوں کی پیمائش کو نیووے میں قابل بناتا ہے۔

کرسٹلز اور انٹرایٹک ریزوں کا تعین کرنے کے لیے الیکٹرون کی برقی رو (electron struction) کے نمونے بھی دریافت کیے جا سکتے ہیں۔

اضافی تکنیکی

دیگر طریقوں میں رامن سپیکٹروکوفی اور اسکیننگ ٹنلنگ (STM) شامل ہیں۔یہ تکنیکیں پیچیدہ ترکیبوں میں ایٹمی تعاملات اور فاصلوں کے بارے میں معلومات فراہم کرتی ہیں۔

  • X-ray Diffraction (XRD)
  • نیوٹرینو ڈیوٹیرشن
  • الیکٹرون مائیکرو‌کوپئے
  • رمضان سپترس کاپری
  • اسکننگ ٹنلنگ مائیکروروکوفی (STM)