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无破坏性: 保护样品的完整性.
狂躁分析: 提供速效.
最小样品制备: 通常不需要很少或没有制备.
易燃性: 适合固体、液体和粉末。

X射线荧光(XRF)无损测试(NDT)是一种用于分析材料元素构成而不造成损害的技术,它依靠样本内的X射线与原子之间的相互作用来识别和量化存在的元素,这种方法广泛应用于制造,环境分析和考古等行业.

XRF NDT的基本原则

在XRF NDT中,一个主X射线源对材料进行辐照。当X射线击中样品中的原子时,它们可以射出内壳电子。产生的空缺由来自更高能量水平的电子填补,释放出被称为荧光的二次X射线。这些发射的X射线具有每个元素特有的特异能量,可以识别和量化。

执行 XRF NDT 涉及几个步骤。首先, 样品是在仪器内准备和定位的。设备会发射X射线, 探测器会测量发射的荧光X射线的能量和强度。数据分析软件对这些信号进行解释,以确定元素组成。