এর অন্তর্ভুক্ত হল, তাদের বৈশিষ্ট্য ও কর্মক্ষমতা নির্ধারণ করার জন্য মাইক্রোসুকীয় পর্যায়ে বিভিন্ন উপাদান পরীক্ষা করা ।

মাইক্রোসট্রাইচার বিশ্লেষণের গুরুত্ব

একটা ব্যাকটেরিয়ার ক্ষুদ্র অংশ বিভিন্ন যান্ত্রিক বৈশিষ্ট্য যেমন শক্তি, অক্ষমতা এবং কঠিন প্রভাবকে প্রভাবিত করতে পারে ।

  • [[[[F] টেলর কন্ট্রোল:[FLT] এই নির্দিষ্ট মান পূরণ করে নিশ্চিত করুন ।
  • [[[F] বিশ্লেষণ:[FLT] বস্তুগত ব্যর্থতার কারণ শনাক্ত করা
  • [[FLT] প্রসেস [FOPInfing]:[FLT] মাইক্রো গঠন বুদ্ধিতে ভিত্তি করে আই.এফ.এল. প্রক্রিয়াকে প্রমাণ করে ।

সাধারণ মাইক্রোসৈনিক বিশ্লেষণ করুন

বিভিন্ন ধরনের যন্ত্রগুলোর বিভিন্ন ধরনের ব্যবহার রয়েছে এবং বিভিন্ন অ্যাপলিকেশনের জন্য ব্যবহৃত হচ্ছে:

  • [[FLT] [F] মাইক্রোসফ্ট:[FLT] ব্যাপক ব্যবহৃত পদ্ধতি যা পৃষ্ঠের বৈশিষ্ট্য এবং শস্য কাঠামো পরীক্ষা করতে অনুমতি দেয় ।
  • [[F] তড়িৎ মাইক্রো- মাইক্রোস্যাম্পে অনুসন্ধান করুন (SE:[EM] [FLT] উচ্চ-রি করিয়া উচ্চ-প্রতণিক ছবি প্রদান করে এবং পৃষ্ঠীয় নকশা ও উদ্ভাবন করতে পারেন ।
  • [[F] বায়ুকল মাইক্রো- নৈকট্য] পরমাণু সংক্রান্ত অভ্যন্তরীণ কাঠামো সম্বন্ধে বিস্তারিত তথ্য প্রদান করে ।
  • [[F] XFLT] X-রে DRRY (XRD)[FRD][FL] WEL] নির্ধারিত মান অনুসারে ব্যবহৃত হয়। পূর্ণরূপে ধার্য ও পর্যায় সনাক্ত করার জন্য ব্যবহৃত
  • [[F] [FLT] [FR] ডি-রে-রে-রে-রে-রে-ট্রাট্রোট্রোট্রোট) কপি (ইডিসি:[FOFLT: 1] প্রায়ই SEM সঙ্গে জুটি করা হয়, এটি উপাদানের উপাদানের উপাদান বিশ্লেষণ করে থাকে।

অপটিক্যাল মাইক্রোসপ

এই প্রক্রিয়া বিশেষভাবে কার্যকরী:

  • [[F] [F] মাপ:[F]] [FLT]] কিছু বস্তুর গড় পরিমাণের গণনা করা হচ্ছে ।
  • [[F] [FLT] সনাক্তকরণ ব্যবস্থা:[FLT] অলয়সের বিভিন্ন ধাপে আলাদা করা ।
  • [[FLT] [F] http:[FFLT] লে-লপডগুলো চিহ্নিত করা [FLT], এমন অসিদ্ধতা শনাক্ত করা যা কার্যকারীতা প্রভাবিত করতে পারে ।

তড়িৎ নৈকট্য

এটা উচ্চমান নিয়ে ছবি তৈরির জন্য একটি নির্দিষ্ট আকারের ইলেকট্রিসিটি ব্যবহার করে: SM (SEM) মাইক্রো-সফ্ট (SM) মাইক্রো-সৈনিক পদার্থের (SEM) মাইক্রো-সৈনিক পদার্থের গঠনকে (SM) স্ক্যান করা হয়:

  • [[FLT] স্রফেসাল টপি:[FLT]
  • [[[F] বিশ্লেষণ: NODS এর মাধ্যমে উপাদানের উপাদান সনাক্ত করা যাবে ।
  • [[FLT] ফীটোগ্রাফি:[[FFLT] কম্পনের মাত্রা বোঝার জন্যIL [FLT] sctivessspotations. fialments

ট্রান্সমিশন মাইক্রো- কন্‌ট্রোট (MOM)

ট্রান্সমিশন মাইক্রো-সফ্ট (ইটিএম) আনবিক প্রস্তাবের আপনার পাতলা নমুনা পরীক্ষা করার সুযোগ দেয় । এই পন্থা জটিল:

  • [[FLT] কাঠামো বিশ্লেষণ:[FLT] উপাদানের পরমাণুর সমন্বয় সাধন করার জন্য অনুসন্ধান করুন ।
  • [[[F] CROPLRIADECV বিশ্লেষণ:[[FLTR] উপলব্ধি করা [FLT] এর মধ্যে ত্রুটিগুলো প্রভাবিত করে ।
  • [[F] NONORVentsctachments অধ্যয়ন:[FLT] অ্যাভিনিউটি: [FLT] অ্যাভিনিউটি: ১.১: ১.১.

এক্স-রে ডি-রে ত্রুটি (XRD)

এক্স-রে ডিফারেজ (এক্সআরডি) হচ্ছে একটি শক্তিশালী কৌশল যার মাধ্যমে ক্রিস্টাললাইন পরিমাপ করা যায় এবং এটি নির্দিষ্ট করে উপাদানের স্থাপত্য কাঠামো নির্ধারণ করা যায়:

  • [[F] [F] সনাক্তকরণ ব্যবস্থা:[F]] কোনো বিষয়বস্তুতে উপস্থিত পর্যায় গণনা করা হবে ।
  • [[F][FLT] বিশ্লেষণ:[[F][FLT][FLT],i] এর পছন্দের দিশা নির্ধারণের হার নির্ধারণ করুন।
  • [[F] ষ্টেইন পরিমাপ: [FLT] বস্তুগুলোতে বিদ্যমান প্রকৃত চাপকে পুনরায় বৃদ্ধি করে ।

ক্ষমতাযুক্ত এক্স-রে স্পেকট্রোস (ECDON)

শক্তি প্রয়োগ করে এক্স-রেট্রোট্রোস (ইডিএস) প্রায়শ:ই SM এর সাথে মিলে ব্যবহৃত হয়। এটি এক্স-রে থেকে একটি নমুনা বের করার সময় এক্স-রেস এর ব্যবহার করা হয় যখন ই. ডি. এস. ই. ব্যবহার করা হয়: ই. এস. এস.-এর জন্য দরকার:

  • [[F]
  • [[FLT] part:[FLT][FLT] সক্রিয় ম্যাপ তৈরি করুন। মন দেখার জন্য মৌলসমূহ তৈরি করুন ।
  • [[F] CLAYON বিশ্লেষণ:[FLT] মৌলিক পদার্থের মনোযোগের প্রতি মিনিটে পরিব্যক্তিকরণ

অন্তর্ভুক্ত

এই জ্ঞান সেই উপাদানগুলোকে ব্যবহার করার ক্ষেত্রে জটিল অন্তর্দৃষ্টি লাভ করতে সাহায্য করে, যা উৎপাদনশীলতা ও বাধা দেয় ।