Det er vigtigt at forstå, at der er tale om en korrekt og potentiel anvendelse af nanomaterialer.

Common Pitfalls in Nanomatererial Karakterization

Det er ikke nødvendigt at foretage en sammenligning af de forskellige metoder, der anvendes til at bestemme de forskellige metoders karakteristika, og som resulterer i en forkert fordeling af data.

Best Practices to Avoid Errors

Det er vigtigt at vælge de tekniske egenskaber ved de anvendte materialer.

Common Karakterizatio Techniques

  • (1); FLT: 0; 3; Transmission Electron Microscopy (TEM): 1; FLT: 1; FLT: 3; Provides details details of images ofnanostructures.
  • (1); (1); (3); (3); (3); (3); (4) (4); (5); (5); (5); (5); (6); (6); (6); (6); (6); (6); (6); (6); (6); (6); (7); (7); (7); (7); (7); (7) (7); (7) (7); (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7)
  • (XRD): (1); (1); (3); (3); (3); (3); (3); (4); (5); (5); (5); (5); (6); (6); (6); (6); (6); (6); (6); (6); (6); (6); (6); (6); (6); (7); (7); (7); (7); (7) (7) (7); (7) (7) (7); (7) (7) (7) (7); (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7) (7
  • (') Se også de særlige bestemmelser i forordning (EØF) nr. 3906 / 87.