کنترل فرآیند آماری (SPC) روشی است که برای نظارت و کنترل فرآیندهای تولید نیمه هادی استفاده می شود. در ساخت نیمه هادی، کین به شناسایی تغییراتی که می تواند منجر به نقص شود، امکان تنظیمات فعال برای بهبود کیفیت و عملکرد.

اجرای بازی Eagle in Semiconductor Manufacturing

پیاده سازی پارامتر شامل جمع آوری داده ها از مراحل مختلف فرآیند ساخت است.این داده ها با استفاده از نمودار های کنترل برای تشخیص روند یا انحرافات اولیه تجزیه و تحلیل می شوند. مهندسان اجازه می دهند تا مسائل را قبل از وقوع نقص ها، کاهش زباله و دوباره کار حل کنند.

مزایای استفاده از SPC برای کاهش نقص ها

استفاده از AA در ساخت نیمه هادی مزایای مختلفی را ارائه می دهد:

  • کیفیت محصول بهبود یافته: [FLT 1] کنترل فرایند مداوم منجر به نقص کمتر می شود.
  • [در این باره] [در این باره]، [[[۱]]]، کاهش نقص ها، تعداد تراشه های عملکردی را در هر نقطه افزایش می دهد.
  • [[۱] [۱۰] صرفه جویی در هزینه های تولید؛ [۱۰] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱]] کمتر کار می کند و هزینه های تولید را کاهش می دهد.
  • درک فرایند اعتماد: [FLT 1] تجزیه و تحلیل داده ها نشان می دهد که تغییرات فرایند و علل ریشه.

مثال: کاهش از طریق جدایی

یک گیاه نیمه هادی در مراحل فرایند بحرانی، با نظارت بر پارامترهای کلیدی با نمودار کنترل، شرکت یک یکنواختی را شناسایی کرد.