Table of Contents
شاخص های قابلیت پردازش مانند Cp و Cpk ابزار مهمی در شش سیگما برای ارزیابی چگونگی مطابقت خوب یک فرآیند با مشخصات هستند، آنها کمک می کنند تا تعیین کنند که آیا یک فرآیند قادر به تولید در محدوده های مشخص است که چگونه محاسبه این شاخص ها برای ابتکارات بهبود کیفیت ضروری است.
درک Cp و Cpk
Cp توانایی بالقوه یک فرآیند را با مقایسه عرض فرآیند گسترش یافته به عرض محدوده محدوده مشخصات اندازه گیری می کند. Cpk فرآیند را مرکز می داند و اندازه گیری می کند که روند تا چه حد نزدیک به هدف در محدوده است.
محاسبه Cp
فرمول Cp این است:
[[ویرایش] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱] [۱]
کجا:
- USL = محدودیت های بالا
- LSL = محدودیت مشخصات پایین
- σ = انحراف استاندارد
محاسبه Cpk
فرمول Cpk این است:
[[ویرایش] [۱] [۱] [۱] [۲]] [۲]] [۲]] [۲]] / [۳] [۳] [۳] [۱] [۲] [۱] [۲] [۲]] [۲]
کجا:
- μ = فرآیند
- USL = محدودیت های بالا
- LSL = محدودیت مشخصات پایین
- σ = انحراف استاندارد
درخواست در شش سیگما
محاسبه Cp و Cpk به شناسایی اینکه آیا یک فرآیند قادر به تولید در مشخصات است، کمک می کند.Acp یا Cpk ارزش 1.33 یا بالاتر به طور کلی در شش سیگما ارزش قابل قبول است.