Aineiden mikrorakenteellisten muutosten ymmärtäminen lämpökäsittelyn jälkeen on olennaista niiden ominaisuuksien ja suorituskyvyn arvioimiseksi. Tarkka mittaustekniikka auttaa insinöörejä ja tutkijoita arvioimaan lämpökäsittelyprosessien tehokkuutta ja ennustamaan materiaalin käyttäytymistä eri olosuhteissa.

Optinen mikroskooppi

Optinen mikroskooppi on yleinen menetelmä mikrorakenteiden tutkimiseen. Siihen kuuluu kiillotetun näytepinnan valmistelu, sen etsaaminen paljastamaan ominaisuuksia ja sitten sen tarkkailu mikroskoopilla. Tämä tekniikka mahdollistaa viljan koon, vaihejakauman ja muiden mikrorakenteellisten ominaisuuksien mittaamisen.

Skannaus Electron Microscopy (SEM)

SEM tarjoaa paremman resoluution kuvantamisen kuin optinen mikroskopia. Se mahdollistaa yksityiskohtaisen analyysin pinnan pinnan pinnanmuodostuksesta ja mikrorakenteesta. SEM on erityisen hyödyllinen vaiherajojen ja lämmönkäsittelyn tuloksena syntyvien inkluusioiden tunnistamisessa.

Röntgen- ja röntgenkatkos (XRD)

XRD:tä käytetään faasikoostumuksen ja kiteytymisrakenteiden analysoinnissa. Muutokset huippuasennoissa ja voimakkuuksissa voivat osoittaa vaiheen muutoksia ja lämmönkäsittelyn aiheuttamia jäännösjännityksiä. Määrällinen analyysi voi määrittää eri vaiheiden osuuden.

Kuvan analysointiohjelmisto

Digitaalinen kuvan analysointiohjelmisto parantaa mittausprosessia tarjoamalla tarkan kvantitatiivisen määrän mikrorakenteelle ominaisia ominaisuuksia. Se voi analysoida mikroskooppikuvien raekokoa, vaihejakaumaa ja muita parametreja, parantaa tarkkuutta ja toistettavuutta.