X-ray diffraktio (XRD) on tekniikka, jota käytetään analysoimaan kiderakenteen materiaalien. Se tarjoaa tietoja, joita voidaan käyttää laskettaessa interplanaarivälit, jotka ovat etäisyyksiä atomitasojen välillä kristalli. Ymmärtäminen, miten tulkita XRD data on olennainen materiaalikarakterisointi ja analyysi.

Röntgenkuvan diffraktiotietojen ymmärtäminen

XRD-tiedot esitetään tyypillisesti diffraktiokuviona, jossa piikit näkyvät tietyissä kulmassa. Nämä huiput vastaavat kristallitasojen röntgensäteiden diffraktiota. Kunkin piikin sijainti liittyy rajapintaväliin Braggin lain kautta.

Lasketaan planaarien välilyöntien määrä

Braggin laki on perusyhtälö, jota käytetään planaaristen välien laskemiseen.

]nλ = 2d sin θ

jossa

  • n on diffraktion järjestys (yleensä 1)
  • λ on röntgenkuvan aallonpituus
  • d on planaarien välinen väli
  • θ[ on Bragg-kulma (puoli diffraktiokulmasta)

Uudelleenjärjestäminen yhtälö ratkaista d antaa:

d = λ / (2 sin θ)

Laskelman soveltaminen

Määrittääkseen planaarien välisen etäisyyden mittaa diffraktiokulma (2θ) kuviosta. Jaa tämä kulma 2:lla löytääksesi θ. Käytä röntgenlähteen tunnettua aallonpituusä, tyypillisesti 1,54 Å Cu Kα-säteilylle. Kytke nämä arvot kaavaan d:n laskemiseksi.

Jos huippu on esimerkiksi 2θ = 30°, θ = 15°.

]d = 1,54 Å / (2 sin 15°) ... 1,54 Å / (2 × 0.2588) ... 1,54 Å / 0.5176 .97 Å