Digitaalipiirien suunnittelu testaavuutta ajatellen on olennaista luotettavuuden ja helppokäyttöisyyden varmistamiseksi. Testauksessa on kyse sellaisten piirien luomisesta, jotka voidaan helposti testata virheiden ja virheiden varalta, lyhentävät vianetsintäaikaa ja parantavat yleistä laatua. Tässä artikkelissa tarkastellaan standardeja ja tekniikoita, joita käytetään testattavien digitaalipiirien suunnittelussa.

Testin suunnittelustandardit

Standardit tarjoavat ohjeita testattavien digitaalipiirien kehittämiseen. Ne varmistavat johdonmukaisuuden ja yhteensopivuuden eri järjestelmien ja testausmenetelmien välillä. Yhteisiin standardeihin kuuluvat IEEE 1149.1, joka tunnetaan myös nimellä JTAG, joka määrittelee integroidun piirin testauksen ja vianetsintätyön standardin.

Näiden standardien noudattaminen auttaa suunnittelijoita sisällyttämään testiominaisuudet suunnitteluvaiheen aikana, mikä helpottaa vian havaitsemista ja diagnosointia myöhemmin.

Tekniikat testattavuuden parantamiseksi

Digitaalipiirien testattavuutta parannetaan useilla tekniikoilla.

  • Testattavuussuunnitelma (DfT):[ Sisältää testipisteitä ja skannausketjuja testauksen helpottamiseksi.
  • Rakennettu-itse-testi (BIST):[] Upotetaan testausominaisuudet piirin sisällä itsediagnoosin suorittamiseksi.
  • Viamallit:[ Käyttämällä malleja kuten juuttunut vika simuloida ja havaita mahdollisia virheitä.
  • Boundary Scan: Käyttämällä rajaskannauskennoja testatakseen sirun välisiä yhteyksiä.

Testattavuudesta saatavat hyödyt

Digitaalipiirien testausominaisuudet tarjoavat useita etuja. Se vähentää testausaikaa, parantaa vikakattavuutta ja yksinkertaistaa vianetsintäprosesseja. Lisäksi se parantaa lopputuotteen luotettavuutta ja alentaa ylläpitokustannuksia koko elinkaarensa ajan.