एक्स-रे विवर्तन (XRD) एक ऐसी तकनीक है जिसका उपयोग सामग्री की क्रिस्टल संरचना का विश्लेषण करने के लिए किया जाता है। यह उन डेटा को प्रदान करता है जिनका उपयोग अंतर-योजनाओं की गणना करने के लिए किया जा सकता है, जो क्रिस्टल में परमाणु विमानों के बीच दूरी है। XRD डेटा को व्याख्या करने के तरीके को समझना भौतिक लक्षण वर्णन और विश्लेषण के लिए आवश्यक है।

X-ray DifFractional Data

XRD डेटा को आम तौर पर एक भिन्न पैटर्न के रूप में प्रस्तुत किया जाता है, जो विशिष्ट कोणों पर चोटियों को दिखाती है। ये चोटियों क्रिस्टल प्लेन द्वारा X-rays के भिन्न से मेल खाते हैं। प्रत्येक चोटी की स्थिति ब्राग के कानून के माध्यम से अंतरप्लानर स्पेसिंग से संबंधित है।

Interplanar Spacings की गणना

ब्राग का कानून अंतरप्लानर स्पेसिंग की गणना करने के लिए उपयोग किया जाने वाला मूलभूत समीकरण है। इसे व्यक्त किया जाता है:

nλ = 2d sin ]

कहाँ:

  • n] divection (आमतौर पर 1) का आदेश है।
  • ]λ X-ray की तरंग दैर्ध्य है
  • d] अंतरप्लानर रिक्ति है
  • ]θ ब्रैग कोण (डिफ्रेक्शन कोण का आधा) है।

D के लिए हल करने के लिए समीकरण को पीछे छोड़ देना:

D = λ / (2 sin θ) ]

गणना लागू करना

अंतरप्लानर रिक्ति को निर्धारित करने के लिए, पैटर्न से भिन्न कोण (2θ) को मापें। इस कोण को 2 से विभाजित करें ताकि θ को ढूंढ सकें। X-ray स्रोत के ज्ञात तरंग दैर्ध्य का उपयोग करें, आम तौर पर Cu Kα विकिरण के लिए 1.54 Å। इन मूल्यों को सूत्र में प्लग करें ताकि d की गणना की जा सके।

उदाहरण के लिए, यदि कोई शिखर 2θ = 30 ° पर दिखाई देता है, तो θ = 15°। λ = 1.54 Å का उपयोग करना:

D = 1.54 Å / (2 sin 15°) ≈ 1.54 Å / (2 × 0.2588) ≈ 1.54 Å / 0.5176 ≈ 2.97 Å