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फोटोनिक क्रिस्टल फाइबर (PCFs) विशिष्ट ऑप्टिकल फाइबर हैं जो एक आवधिक सूक्ष्म संरचना के माध्यम से प्रकाश का मार्गदर्शन करते हैं। कटऑफ आवृत्ति को निर्धारित करने के लिए उनके मार्गदर्शक गुणों और डिजाइनिंग अनुप्रयोगों को समझने के लिए आवश्यक है। यह लेख पीसीएफ में कटऑफ आवृत्ति की पहचान करने के लिए उपयोग किए जाने वाले तरीकों को बताता है।
बदलाव की आवृत्ति
एक फोटोनिक क्रिस्टल फाइबर में कटऑफ आवृत्ति उस सीमा से ऊपर है, जिसके ऊपर कुछ मोड प्रचार कर सकते हैं। इस आवृत्ति के नीचे, मोड सीमित होते हैं, जबकि इसके ऊपर, वे लीक या हानिदार हो जाते हैं। इस आवृत्ति का सटीक निर्धारण विशिष्ट तरंग दैर्ध्य के लिए फाइबर प्रदर्शन को अनुकूलित करने में मदद करता है।
कटऑफ फ्रीक्वेंसी को निर्धारित करने के तरीके
कई दृष्टिकोणों का उपयोग पीसीएफ में कटऑफ आवृत्ति की पहचान करने के लिए किया जाता है, जिसमें संख्यात्मक सिमुलेशन और प्रयोगात्मक माप शामिल हैं।
न्यूमेरिकल सिमुलेशन
कम्प्यूटेशनल तरीकों जैसे कि परिमित तत्व विश्लेषण (FEA) या प्लेन वेव विस्तार फाइबर के मोडल गुणों को मॉडल करने के लिए कार्यरत हैं। विभिन्न तरंगों में मोड के प्रभावी सूचकांक का विश्लेषण करके, कटऑफ आवृत्ति को पिनपॉइंट किया जा सकता है जहां कुछ मोड निर्देशित होने के लिए बंद हो जाते हैं।
प्रायोगिक माप
प्रायोगिक तकनीकों में संचरण स्पेक्ट्रम या मोड प्रोफाइल को मापने शामिल है। संचरण में एक तेज परिवर्तन या हानि कटऑफ आवृत्ति को पार करने को इंगित करती है। ये माप अक्सर सत्यापन के लिए संख्यात्मक भविष्यवाणियों द्वारा पूरक होते हैं।
मुख्य कारक कटऑफ फ्रीक्वेंसी को प्रभावित करते हैं
कटऑफ आवृत्ति फाइबर के संरचनात्मक मापदंडों पर निर्भर करती है, जिसमें हवा के छेद के आकार और स्पेसिंग और अपवर्तक सूचकांक विपरीत शामिल है। इन मापदंडों को समायोजित करने से कटऑफ बिंदु पर नियंत्रण की अनुमति मिलती है, जो विशिष्ट अनुप्रयोगों के लिए फाइबर को अनुरूप बनाती है।
- एयर होल व्यास
- छेद के बीच पिच या स्पेसिंग
- अपवर्तक सूचकांक विपरीत
- फाइबर की लंबाई और निर्माण सहिष्णुता