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जटिल क्रिस्टल में अंतराक्षरता को मापने के लिए उनके गुणों और व्यवहारों को समझने के लिए आवश्यक है। इन दूरी को सही ढंग से निर्धारित करने के लिए प्रयोगशालाओं में कई व्यावहारिक तरीकों का उपयोग किया जाता है। यह लेख इस क्षेत्र में कार्यरत सबसे आम तकनीकों में से कुछ पर चर्चा करता है।
एक्स-रे डिफ्रैक्शन (XRD)
एक्स-रे विवर्तन क्रिस्टल संरचनाओं का विश्लेषण करने के लिए एक व्यापक रूप से इस्तेमाल किया जाने वाला तरीका है। इसमें एक्स-रे को क्रिस्टल पर निर्देशित करना और अलग-अलग बीमों के कोणों और तीव्रता को मापने शामिल है। प्राप्त डेटा परमाणु पदों और अंतराक्षम दूरी की गणना की अनुमति देता है।
उच्च-रिज़ॉल्यूशन XRD डिफ्रैक्शन पैटर्न का विश्लेषण करके जटिल संरचनाओं को हल कर सकता है। यह बड़े इकाई कोशिकाओं या एकाधिक परमाणु प्रजातियों के साथ क्रिस्टलीय सामग्री के लिए विशेष रूप से उपयोगी है।
न्यूट्रॉन डिफ्रैक्शन
न्यूट्रॉन डिफ्रेक्शन XRD के समान है लेकिन X-rays के बजाय न्यूट्रॉन का उपयोग करता है। न्यूट्रॉन हल्के परमाणुओं के प्रति अधिक संवेदनशील होते हैं और आइसोटोप के बीच अंतर कर सकते हैं, जिससे यह विधि कई तत्वों के साथ जटिल क्रिस्टल के लिए मूल्यवान हो जाती है।
यह तकनीक परमाणु पदों के बारे में विस्तृत जानकारी प्रदान करती है, खासकर हाइड्रोजन परमाणुओं के लिए, जो XRD के साथ पता लगाने में मुश्किल है।
इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी
ट्रांसमिशन इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी (TEM) सीधे क्रिस्टल में परमाणु व्यवस्था को छवि दे सकता है। उच्च-रिज़ॉल्यूशन TEM परमाणु स्तंभों के दृश्यन की अनुमति देता है, जिससे नैनोस्केल पर अंतराक्षम दूरी की माप को सक्षम किया जा सकता है।
इलेक्ट्रॉन विवर्तन पैटर्न का विश्लेषण क्रिस्टल समरूपता और अंतराक्षरता स्पैसिंगों को निर्धारित करने के लिए भी किया जा सकता है।
अतिरिक्त तकनीक
अन्य तरीकों में रमन स्पेक्ट्रोस्कोपी और स्कैनिंग टनलिंग माइक्रोस्कोपी (STM) शामिल हैं। ये तकनीक जटिल संरचनाओं में परमाणु संपर्क और दूरी के बारे में पूरक जानकारी प्रदान करती हैं।
- एक्स-रे डिफ्रैक्शन (XRD)
- न्यूट्रॉन डिफ्रैक्शन
- इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी
- रमन स्पेक्ट्रोस्कोपी
- स्कैनिंग टनलिंग माइक्रोस्कोपी (STM)