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डिजिटल सर्किट को ध्यान में रखते हुए विश्वसनीयता और रखरखाव में आसानी सुनिश्चित करने के लिए ध्यान में रखते हुए परीक्षण क्षमता में सर्किट बनाना आवश्यक है। परीक्षण क्षमता में सर्किट बनाना शामिल है जिसे आसानी से दोषों और त्रुटियों के लिए परीक्षण किया जा सकता है, डिबगिंग समय को कम करने और समग्र गुणवत्ता में सुधार करना शामिल है। यह लेख परीक्षण योग्य डिजिटल सर्किट डिजाइन करने में उपयोग किए जाने वाले मानकों और तकनीकों की पड़ताल करता है।
परीक्षण क्षमता डिजाइन में मानक
मानक परीक्षण योग्य डिजिटल सर्किट विकसित करने के लिए दिशानिर्देश प्रदान करते हैं। वे विभिन्न प्रणालियों और परीक्षण विधियों में स्थिरता और संगतता सुनिश्चित करते हैं। सामान्य मानकों में IEEE 1149.1 भी शामिल हैं, जिसे JTAG के नाम से भी जाना जाता है, जो एकीकृत सर्किटों के परीक्षण और डीबगिंग के लिए एक मानक इंटरफ़ेस को परिभाषित करता है।
इन मानकों का पालन करने से डिजाइनरों को प्रारंभिक डिजाइन चरण के दौरान परीक्षण सुविधाओं को शामिल करने में मदद मिलती है, बाद में आसान गलती का पता लगाने और निदान की सुविधा प्रदान करती है।
परीक्षण क्षमता बढ़ाने की तकनीक
कई तकनीकों का उपयोग डिजिटल सर्किट की परीक्षण क्षमता में सुधार करने के लिए किया जाता है।
- डिजाइन फॉर टेस्टेबिलिटी (DfT): परीक्षण के लिए परीक्षण बिंदुओं और स्कैन श्रृंखला को शामिल करना।
- Built-In Self-Test (BIST): स्वयं निदान करने के लिए सर्किट के भीतर परीक्षण क्षमताओं को एम्बेड करना।
- ]Fault Model: संभावित त्रुटियों को अनुकरण और पता लगाने के लिए अटक-at दोष जैसे मॉडल का उपयोग करना।
- Boundary Scan:] चिप्स के बीच संबंध का परीक्षण करने के लिए सीमा स्कैन कोशिकाओं का उपयोग करना।
परीक्षण क्षमता के लाभ
डिजिटल सर्किट में परीक्षण क्षमता की विशेषताएं लागू करने से कई फायदे मिलते हैं। यह परीक्षण समय को कम करता है, गलती कवरेज में सुधार करता है और डीबगिंग प्रक्रियाओं को सरल बनाता है। इसके अतिरिक्त, यह अंतिम उत्पाद की विश्वसनीयता को बढ़ाता है और इसकी उम्र में रखरखाव लागत को कम करता है।