प्रक्रिया उपज और दोष गणना छह सिग्मा पद्धति के आवश्यक घटक हैं। वे प्रक्रिया में बदलाव की प्रभावशीलता को सुधारने और मापने के लिए क्षेत्रों की पहचान करने में मदद करते हैं। यह लेख इन मीट्रिकों की सही गणना के लिए व्यावहारिक तकनीकों को प्रदान करता है।

प्रक्रिया यील्ड को समझना

प्रक्रिया उपज उन इकाइयों का प्रतिशत है जो दोषों के बिना किसी प्रक्रिया से गुजरती हैं। यह प्रक्रिया दक्षता और गुणवत्ता का एक प्रमुख सूचक है। गणना करने वाली उपज में दोष मुक्त इकाइयों की संख्या की गिनती और उत्पादित कुल इकाइयों द्वारा विभाजित करना शामिल है।

मूल सूत्र:

]Yield = (अच्छी इकाइयों / कुल इकाइयों की संख्या) × 100%

प्रति यूनिट की गणना

प्रति यूनिट (डी पी यू) की कमी एक इकाई में पाया दोषों की औसत संख्या को मापती है। यह प्रक्रिया के गुणवत्ता स्तर पर अंतर्दृष्टि प्रदान करता है। डी पी यू की गणना करने के लिए, निरीक्षण की गई कुल इकाइयों द्वारा दोषों की कुल संख्या को विभाजित करें।

सूत्र:

DPU = कुल दोष / कुल इकाइयों का निरीक्षण ]

प्रति मिलियन अवसरों (DPMO) का उपयोग करना

DPMO प्रत्येक इकाई के भीतर दोषों के लिए कई अवसरों पर विचार करके दोष माप को मानकीकृत करता है। विभिन्न जटिलताओं के साथ प्रक्रियाओं की तुलना करने के लिए उपयोगी है। DPMO की गणना करने के लिए, प्रति यूनिट अवसरों की संख्या से DPU को गुणा करें और फिर प्रति मिलियन इकाइयों को स्केल करें।

सूत्र:

DPMO = (प्रति इकाई × प्रति यूनिट के अवसरों को अलग करता है) × 1,000,000

प्रैक्टिकल अनुप्रयोग

प्रैक्टिशनर्स को नियमित रूप से उत्पादित इकाइयों पर डेटा एकत्र करना चाहिए और पहचाने गए दोषों का पता लगाना चाहिए। ऊपर दिए गए सूत्रों का उपयोग करके वे समय के साथ प्रक्रिया प्रदर्शन की निगरानी कर सकते हैं और रुझानों की पहचान कर सकते हैं। नियंत्रण चार्ट को लागू करने से प्रक्रिया स्थिरता और विविधता को देखने में मदद मिल सकती है।

  • सटीक दोष डेटा एकत्र करना
  • नियमित रूप से उपज और DPU की गणना
  • जटिल प्रक्रियाओं के लिए DPMO का उपयोग करें
  • नियंत्रण चार्ट के साथ रुझानों की निगरानी करें