X線回折(XRD)は、材料の結晶構造を分析するために使用される技術です。 これは、結晶の原子平面間の距離であるインタープラン間隔を計算するために使用できるデータを提供します。 XRDデータを解釈する方法を理解することは、材料の特性と分析に不可欠です。

X線回折データを理解する

XRD データは、特定の角度でピークを示す、通常、差分パターンとして表示されます。 これらのピークは、クリスタル プレーンによる X 線の差異に対応します。 各ピークの位置は、Braggg の法によるインタープランサー間隔に関連しています。

インタープランターの間隔の計算

Braggの法則は、インタープランの間隔を計算するために使用される基本的な式です。次のように表現されます。

nλ = 2d 罪θ

どこ:

  • [n]は、分裂の順序です(通常1)
  • λ]はX線の波長です
  • d]は、インタープランナーの間隔です
  • θ]は、Bragggの角度(分裂角度の半分)です。

d の解決のための装備を後押しは与えます:

d = λ / (2 罪 θ)

計算の適用

インタープランナーの間隔を定めるためには、パターンから分岐角度(2θ)を測定して下さい。この角度を2つずつ分けてθを見つけて下さい。X線の源の知られた波長、Cu Kαの放射のための普通1.54 Åを使用して下さい。dを計算する方式にこれらの値を差し込んで下さい。

例えば、ピークが2θ = 30°で現れた場合、θ = 15°。 λ = 1.54 Åを使用して:

[d = 1.54 Å / (2 罪 15°) ≈ 1.54 Å / (2 × 0.2588) ≈ 1.54 Å / 0.5176≈ 2.97 Å