結晶の欠陥は、材料の特性に著しく影響を及ぼす可能性があります。 回折技術は、これらの欠陥を特定し、分析するための不可欠なツールです。 この記事では、分裂方法による結晶の欠陥の検出に使用される実用的な方法について説明します。

回折技術の基礎

回折技術は、X線、ニュートロン、または電子の相互作用を結晶格子と伴います。これらの波が欠陥に遭遇すると、それらは結晶構造と欠陥に関する情報を明らかにする特性パターンを生成します。

結晶の欠陥を検出するための一般的な方法

  • [X線回折(XRD):[]]は、ピークシフトを分析し、膨張することにより、格子歪みと緊張を特定するために使用される。
  • 透過電子顕微鏡(TEM):[] 原子分解能で欠陥の直接イメージングを提供します。
  • ]Neutron の回折:[ 光の要素に敏感で微妙な構造変化を検出できます。

回折分析における実践的なステップ

水晶欠陥を識別するために、開業医は、通常、サンプルを準備し、分裂測定を実行し、結果のパターンを分析します。ピーク位置、強度、および幅の変化は、変位、発疹、または欠陥を積み重ねるなどの欠陥の存在を示しています。

主な指標のまとめ

  • ピークブレンディングは、株または小さな結晶サイズを示唆しています。
  • ピークシフトは格子歪みを示します。
  • 追加のピークや肩は、二次フェーズやスタックの障害を明らかにすることができます。