実際の回路におけるMOSFETの容量を測定することは、その動作と性能を理解する上で不可欠です。正確な測定は、電子機器システムの設計とトラブルシューティングに役立ちます。これらのキャパシタンスを効果的に決定するために、いくつかの実用的な方法が採用できます。

MOSFETの能力を理解する

MOSFETは、ゲート・ツー・ソース、ゲート・ツー・ドレイン、ドレイン・ツー・バルクを含むいくつかの寄生虫の容量を持っています。 これらの容量は、デバイスの切り替え速度と周波数応答に影響を及ぼします。 回路内のそれらを測定するには、各コンポーネントを分離し、定量化するための特定の技術が必要です。

LCR のメートルを使用して

LCRメーターは、MOSFETがテスト回路にあるとき、直接キャパシタンスを測定することができます。これを行うには、MOSFETを回路から切断するか、安全な状態にあることを確認してください。ゲートやソースなどの利害のターミナルを横断してメーターを接続し、読書を記録します。この方法は、寄生虫キャパシタンスの迅速な推定を提供します。

Oscilloscopeによる静電容量測定

oscilloscopeはゲートに知られた電圧ステップを適用し、充満カーブを観察することによってMOSFETのキャパシタンスを測定するのに使用することができます。充満プロセスの一定時間は容量および回路の抵抗に関連します。 方式C = τ/Rを使用して、τは時間の一定であり、Rは抵抗、キャパシタンスを計算することができます。

追加のテクニック

高周波測定用に設計されたネットワークアナライザや特殊なテスト機器を使用して、他の方法があります。 これらの技術はより複雑ですが、高速スイッチングアプリケーション用のより高い精度を提供します。 適切な校正と回路のセットアップは、信頼性の高い結果に不可欠です。